X射线荧光测厚仪CMI900 CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900介绍 CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点,在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。 CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900主要特点 样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST认证的标准片 **服务及支持 CMI900镀层测厚仪及X射线荧光测厚仪CMI900技术参数 主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选 装备有*防射线光闸 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器程控交换系统 较多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,较小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时,较大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室 CMI900 CMI950 -样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 -较大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm -Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时,152.4mm XY轴手动时,269.2mm -XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 -样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件 操作系统:Windows2000中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包 -测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 -基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 贵金属检测,如Au karat评价 材料和合金元素分析, 材料鉴别和分类检测 液体样品分析,如镀液中的金属元素含量 多达4个样品的光谱同时显示和比较 元素光谱定性分析 -调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动*系统漂移 -测量自动化功能 鼠标*测量模式:“Point and Shoot” 多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 -样品台程控功能 设定测量点 连续多点测量 测量位置预览(图表显示) -统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、较大值、较小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能 任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 -系统*监测功能 Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师
东莞市众特仪器有限公司是一家**致力于力学试验、测厚仪器及金相分析等三大系列产品的生产、销售和服务的高科技企业,作为精密检测仪器的综合制造商, 凯特仪器秉承着“**铸造品质,服务体现用心”的经营理念,,致力于国内外精密测量仪器的推广应用,在市场上赢得广泛客户的认可。 本公司以过硬的品质、合理的价位、**用的的服务,在**业中享有良好声誉,并在客户网络中营造良好的**经营形象。目前已在全国有300多家经销商,并与多家中外**企业达成合作伙伴关系。 主要经营的仪器: 1. 力学试验系列 数显推拉力计、指针型推拉力计、拉力实验机、推拉力计测试台、插拔力实验机、弹簧实验机、邵氏硬度计等 2. 测厚仪器系列 铜箔测厚仪,面铜测厚仪,孔铜测厚仪,涂层测厚仪,镀层测厚仪等 3. 金相分析系列 双盘研磨机,单盘研磨机,金相研磨抛光机,金相显微镜,金相切割机,手持式数研显微镜等