氨逃逸

1.1系统简介 本HF在线监测系统采用高温伴热抽取技术，对烟气中的HF进行连续在线监测,系统由取样及传输单元、预处理及控制单元、分析单元三部分构成，主要应用于众多工业领域气体排放监测和过程控制，例如:燃煤发电厂、铝厂、钢铁厂、冶炼厂、垃圾发电站、水泥厂和化工厂、玻璃厂等。 分析仪采用TDLAS技术(可调谐半导体激光光谱吸收技术Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy)，为目前*****的气体测量方法之一，该仪表具有灵敏度高、响应速度快、不受背景气体干扰、非接触式测量等特点，为实时准确地反映HF变化提供了可靠保证。 1.2主要技术指标 工作条件 电源 220VAC，<3kW 吹扫气体 （0.4~0.6）MPa压缩空气 环境温度 -20℃~55℃ 技术指标 光通道长度 760mm 量程范围 0～200mg/m3 T90响应时间 <15秒 测量精度 ≤ ±2% FS 重复性 ≤ ±1% FS 防护等级 IP65 1.3 系统组件 序号 名称 型号和规格 数量 单位 1 预处理机柜 预处理及控制装置 1 套 1.1 分析机柜 1200H×850L×400Wmm 1 台 1.2 电磁阀 DC24V，常闭 2 个 1.3 射流泵 8L/min 1 个 1.4 高温精密过滤器 0.2um，304不锈钢 1 套 1.5 控制电路 包括自动采样、反吹、温控 1 套 1.6 高温截止阀 BTB-DN10，气动阀 1 个 2 分析仪 SS-LAS300 1 台 3 加热型（带反吹）取样探头 SP223 1 套 4 采样伴热管线 60w/m 5 米 5 备品备件 见备品备件清单 1 套 2.系统详述 2.1 取样探头 SP223型取样探头用于本系统的样气采样，具有滤尘和伴热的功能，可以有效的防止采集的样气的冷凝，*特的结构设计使采样系统较加可靠，样气丢失率较小，保证分析系统的稳定和真实。 2.1.1产品特点 该装置与样品接触的部分全部采用316L不锈钢材料加工制成，高温条件下抗腐能力很强。配制防雨罩完全可以胜任室外工作环境。 ?在设计上采用等温加热体，结构紧凑，加热温度稳定。 ?过滤器滤芯采用钛合金烧结过滤器，具有过滤面积大，过滤精度高等特点，更换时可将其从装置中整体拉出，操作简单，*工具，大大地缩短维护更换的时间，并降低了劳动强度。 ?该装置除设有一样气输出口外，还设置有一个可复用的反吹／校准口，在配置时可灵活安排气路。 ?操作简单,带有低温报警. ?滤芯更换*工具 。 ?开关方便，带扣锁保护罩 ?*过滤清洁系统 2.1.2技术参数 ?*高采样温度：300℃ ?*大工作压力：5bar ?采样腔加热温度: 200℃（出厂设定，温度可调） ?电源：220VAC?50/60Hz 400W ?环境温度：－20~80℃ ?*大粉尘浓度：100g/m3 ?滤芯过滤精度：2μm（其它精度可选，1-10μm） ?滤芯尺寸：150*35mm ?反吹气接口：OD8/6卡套式接头。 ?采样气出口：OD8/6卡套式接头? ?含采样探杆：￠25×1200mm/长度可选 ?安装附件:安装法兰盘\对装法兰盘\安装螺栓\法兰盘密封平垫 2.2 预处理及控制单元 系统流程图 2.2.1 工作流程 如系统流程图所示，样气经采样探头，由采样伴热管输送至预处理单元，预处理单元包括常闭型高温阀SV1，精密过滤器、射流泵等，其中SV1阀用于在停止采样时切断气路，精密过滤器用于进一步净化样气，去除样气中的粉尘等，射流泵则用于提供样气传输时的动力，系统由PLC控制实际自动周期采样及吹扫。所有样气流经元件及管路均置于恒温加热盒中，防止管路被结晶物堵塞，减少样气损失。 2.2.2 技术参数 ?机柜：1200H×850L×400Wmm，防护等级IP65； ?材质：采用2mm钢板静电喷涂； ?控制系统：采用PLC控制，实现自动采样、吹扫、故障报警等； ?射流泵：使用0.2-0.6MPa压缩气源经预加热后进入射流泵产生采样动力，采样流量*大8L/min，316L材质，防腐蚀，无机械部件，**长时间稳定运行，； ?除尘：经过采样探头除尘的气体再经过一级0.2um级过滤器再到气体分析仪，确**析仪的长期稳定运行； ?加热： 所有样气流经元件及管路均置于恒温加热盒中,加热控制温度190℃; ?系统供电:AC220V,2000W。 2.3 分析单元 分析单元结构图 2.3.1测量原理 激光气体分析仪的测量原理是可调谐半导体激光光谱吸收技术Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy)，TDLAS*早于20世纪70年代提出。初期的TDLAS技术只是一种实验室研究用技术，随着半导体激光技术在20世纪80年代的迅速发展，特别是20世纪90年代以来，基于TDLAS技术的现场在线分析仪表已逐渐发展成熟，能够在各种高温、高粉尘、高腐蚀等恶劣的环境下进行现场在线的气体浓度测量。 可调谐半导体激光光谱吸收技术TDLAS本质上是一种光谱吸收技术，通过分析激光被气体分子的选择性吸收来获得气体的浓度。它与传统红外光谱吸收技术的不同之处在于，半导体激光光谱宽度远小于气体吸收谱线的展宽，如上图。因此，半导体激光吸收光谱技术是一种高分辨率的光谱吸收技术。系统采用特定波长的激光束穿过被测气体，激光强度的衰减与气体的浓度满足朗伯.比尔定理，因此可以通过检测激光强度的衰减信息分析获得被测气体的浓度。采用半导体激光吸收光谱技术的激光气体分析仪可从原理上抗背景气体的干扰，测量结果可靠性高。 2.3.2 优点 1 .不受背景气体的影响 传统非色散红外光谱吸收技术采用的光源谱带很宽，其谱宽范围内除了被测气体的吸收谱线外，还有很多基他背景气体的吸收谱线。因此，光源发出的光除了被待测气体的多条谱线吸收外还被一些背景气体的吸收，从而导致测量的不准确性。 而半导体激光吸收光谱技术中使用的半导体激光的谱宽小于0.001nm，远小于被测气体一条吸收谱线的谱宽。如图2-1所示的“单线吸收光谱”数据。 同时在选择该吸收谱线时，就保证在所选吸收谱线频率附近约10倍谱线宽度范围内无测量环境中背景气体组分的吸收谱线，从而避免这些背景气体组分对被测气体的交叉吸收干扰，保证测量的准确性。 2. 不受粉尘干扰 如图2-1激光气体分析仪通过调制激光器的频率使之周期性地扫描被测气体的吸收谱线，激光频率的扫描范围被设置为大于被测气体吸收谱线的宽度，从而在一次扫描中包含有不被气体吸收谱线衰减的图2-1中的黄绿区（1区）和被气体吸收谱线衰减的红色区（2区）。从1区得到的测量信号包含粉尘和视窗污染的透过率，从2区得到的测量信号除包含粉尘和视窗污染的透过率还包含被气体吸收的光强衰减。因此，通过在一个激光频率扫描周期内对1区和2区的同时测量可以准确获得被气体吸收衰减掉的透光率，从而不受粉尘及视窗污染产生光强衰减对气体测量浓度的影响。 3 自动修正温度、压力对测量的影响 气体温度和压力的变化会导致二次谐波信号波形的幅值与形状发生相应的变化，从而影响测量的准确性。为了解决这个问题，激光气体分析仪中增加了温度、压力补偿算法，只要将外部传感器测得的气体温度，压力信号输入补偿算法中，分析仪就能自动修正温度、压力变化对气体浓度测量的影响，保证了测量的准确性。而系统气体测量池温度持续恒温在190℃，因此温度影响可消除，仅需将气体测量池压力信号检测输入分析仪即可。 2.3.3技术指标 1 .测量参数 参数 单位 数值/范围 测量气体 —— HF 测量原理 —— TDLAS 量程范围 mg/m3 0-200 测量精度 ±2%FS 重复性 ±1%FS 分辨率 mg/m3 0.1 T90时间 S 15 刷新频率 S 2 环境温度 ℃ -20-55 气室加热温度 ℃ 190 样气*大湿度 %.abs 40 样气流量范围 L/min 1-2 样气输入温度 ℃ 190 2. 结构参数 参数 单位 数值/范围 气室长度 mm 760 气室容积 L 0.6 样气接口 mm ?6卡套 *大外形尺寸 mm 1500 重量 kg 15 3. 电气参数 参数 单位 数值/范围 供电电压 V AC220,50Hz 功率 W <50 输出接口 mA 4-20

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