测试项目 测试方法 测试标准
零部件**物释放 袋式法 NES M0402、 0094Z-SNA-0000、TSM0508G、JASOM902、TS-BD-003、QOSTA-EVR 300000.02-V1.0、MS300-55、SES N 2403、Q/JLY J7110274A、MES CF090、QCC SY248
**物释放 热脱附气相色谱质谱联用法 VDA278、PBVWL709、D40 0002、TSM 0509、GMW 15634
总碳散发 顶空气相色谱法 VDA277、PV3341、GMW8081、TS-INT-002
醛酮释放 液相色谱法 GMW15635、D40 0001
烧瓶法 VDA275、PV3925、GMW14236
雾化 重量法、反射法、雾度法 DIN 75201、PV3015、ISO 6452、SAE J1756、GMW 3235
气味 主观评测 VDA 270、PV 3900、GMW 3205、SAE J1351、SMTC 5400012、BO131-03、TSM 0505G
电子电器产品的高低温测试分为高低温存储测试和高低温运行测试。高低温存储是产品不上电,在非工作状态下进行测试。高低温运行是给产品供电,在产品工作状态下进行测试
高温可能使产品过热,影响使用安全可靠性,甚至损坏。如:
1、使绝缘或密封用灌浆胶熔化流失,润滑脂熔化流失,从而引起损塔
2、使材料性能发生变化
3、弹性元件的弹性或机械性能强度降低,缩短产品使用寿命
4、加速高分子材料和绝缘材料劣化和老化过程,缩短产品使用寿命。
寿命试验
寿命试验是可靠性试验的一个较其重要的内容,通过这种试验,可以了解产品工作的寿命特征、失效规律,并算出产品失效率和平均寿命等可靠性指标。产品的寿命试验,按时间长短又可分为长期寿命试验和加速寿命试验。
可靠性环境试验项目较多,主要有:①气候条件,如温度、湿度、气压、风雪、盐雾、腐蚀性气体等,②机械条件,如振动、冲击、离心、碰撞、跌落、失重、噪声、冲击波等,③辐射条件,如太阳辐射,核辐射等。
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