无接触和无损伤测量少子寿命测试仪可移动扫描头

HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到20ms,电阻率量程为>0.1Ω.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业**的测量仪器。

产品特点
■ 无接触和无损伤测量
■ 可移动扫描头，便于测量
■ 测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量
■ 主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等
■ *，较大程度地降低了企业的测试成本
■ 质保期：1年


推荐工作条件
■ 温度：15-30℃
■ 湿度：10%~80%
■ 大气压：750±30毫米汞柱

技术指标
■ 少子寿命测试范围:0.1μs-20ms
■ 测试尺寸:尺寸不限
■ 测试时间：1-30s(具体和信号质量及测试精度有关)
■ 电阻率范围：>0.1Ω.cm
■ 激光波长：980±30nm,测试功率范围：50-500mw,脉冲宽度调节范围：0.5-60μs
■ 仪器测试精度：±3.5％
■ 工作频率：10GHz±0.5
■ 微波测试单元功率：0.01W±10%
■ 电源：～220V  50Hz    功耗＜30W
■ 扫描头尺寸：290mm *200mm *65mm, 电器控制单元: 210mm*220mm*60mm
■ 扫描头重量：3KG，电器控制单元：1kg

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