探测器配置
高灵敏电制冷Si(Li)探测器技术,仪器免维护和零费用运行,寿命达15年以上(可选用:液氮Si(Li) 探测器)
较高的分辨率: 电制冷Si(Li) 探测器 晶体面积15mm2 分辨率<155ev (可选用: 液 氮Si(Li) 探测器 晶体面积30mm2 分辨率<149ev)
**大Si(Li) 晶体,较高的痕量分析的灵敏度,打破lng的检测限壁垒X-光管
50KV,50瓦,**强流端窗X-射线管,具有**强束流。高稳定,寿命可达15年以上
多滤光片技术,8位滤光片可根据分析对象元素,有效探测.可清晰分辨相邻元素
数据采集
全数字脉冲处理器技术,死时间达60%,以及优异的峰背比,较大的提高分析速度及精度
采用多道(32位4096道)脉冲分析器,较大的提高分析精度及其速度
其他
**大样品室,可容纳305mm×389mm×66mm的样品(增高室可选215mm或371mm)
全自动校准,自动监测,自动报警系统,*计算机控制
镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术
方便快捷的运输和移动
**,操作简便WinTrace软件
主要特点
分析元素范围 Na-U
分析元素的浓度范围 ppm—**
整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
**FP无标样分析软件,无标样条件下误差小于1%。减少对标样的依赖性
ROHS/WEEE检测时间100-120秒
样品类型: 固体,液体,粉末,滤渣,镀层及其他
仪器介绍
荧光能谱仪(EDXRF) 应对ROHS/WEEE检测绿色采购较佳帮手能量色散X-荧光光谱仪(EDXRF)是较新的元素分析仪,是为实验室和工厂制造环境下满足绝大多数分析设计的,其强大的功能和灵活性对于许多元素分析应用是不可缺少的。有了,就不必在为元素的范围、分析性能、样品类型、分析便捷或**性担忧了。
仪器介绍
热电 荧光能谱仪(EDXRF) 应对ROHS/WEEE检测绿色采购较佳帮手 热电能量色散X-荧光光谱仪(EDXRF)是较新的元素分析仪,是为实验室和工厂制造环境下满足绝大多数分析设计的,其强大的功能和灵活性对于许多元素分析应用是不可缺少的。有了热电,就不必在为元素的范围、分析性能、样品类型、分析便捷或**性担忧了。
应用领域:
应对RoHS & WEEE 指令分析
各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量
气溶胶颗粒滤膜, 刑侦以及痕量分析
土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等
营养添加剂 ,各种油品成份分析等
磁性磁性介质和半导体,各种合金、贵金属成份分析