CST-50冲击试样缺口投影仪

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2020《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种**于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。
**特点： 本设备屏幕上标有明显刻度， 并标有公差带、角度值和深度线， 可精确读出缺口误差，满足美标、 欧标 ASTM E23，EN 10045，ISO 148，ISO 83 等一些**相关标 准的要求。
工作原理：
本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。
根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。
CST-50型冲击试样缺口投影仪主要参数：
1.投影屏直径：        180mm
2.工作台尺寸：
方工作台尺寸：    110×125mm
圆工作台直径：    90mm
工作台玻璃直径：  70mm
3.工作台行程：
纵向：            ±10mm
横向：            ±10mm
升降：            ±12mm（无刻度）
4.工作台转动范围：    0~360°（无刻度）
5.仪器放大倍率：      50X
物镜放大倍率：    2.5X
投影物镜放大倍率：20X
6.光源（卤钨灯）：    12V    100W
7.电源：             220V    50Hz
8.外形尺寸：         515×224×603mm（长×宽×高）
9.CST-50型冲击试样缺口投影仪重量：             约18Kg

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