芯片拉力测试机键合推拉力测试仪

芯片拉力测试机键合推拉力测试仪是一种用于测试封装件的推拉力的设备。它可以测量封装件在不同温度下的推拉力，以确定其在不同环境下的可靠性和耐久性。
该测试机采用**的电子控制技术和精密的传感器，可以实现高精度的测试结果。它具有多种测试模式，包括静态测试、动态测试和循环测试等，可以满足不同的测试需求。
在测试过程中，该设备可以自动记录测试数据，并生成测试报告。测试报告包括测试结果、测试条件、测试时间等信息，可以帮助用户较好地了解封装件的性能和可靠性。
该测试机还具有多种安全保护功能，如过载保护、过压保护、过流保护等，可以确保测试过程的安全和可靠性。

设备型号：LB-8500L
外形尺寸：1500mm*1200mm*1650mm
设备重量：约 800KG
电源供应：110V/220V@5.0A  50/60HZ
气压供应：4.5-6Bar
控制电脑：联想/惠普原装PC
电脑系统：Windows7/Windowsl0 正版系统
显微镜：标配三目连续变倍显微镜+高清CCD相机
传感器更换方式：手动更换（根据测试需要选择相应的测试模组，软件自动识别模组量程）
平台治具：360度旋转，平台可共用各种测试治具
XY轴丝杆有效行程：500mm*300mm，大测试力100KG
XY轴大移动速度：采用霍尔摇杆对XV轴自由控制，大移动速度为10mm/S
XY轴丝杆精度：重复精度±5um 分辨率≤0.125 : 2mm以内精度±2um
Z轴丝杆有效行程：100mm 分辨率≤0.125um，大测试力20KG
Z轴大移动速度：采用霍尔摇杆对Z轴自由控制，大移动速度为8mm/S
Z轴丝杆精度：±2um 剪切精度：2mm以内精度±2um
传感器精度：传感器精度±0.003%：综合测试精度士0.25%
设备治具：根据样品或图纸按产品设计治具（出厂标配一套）
设备校正：设备出厂标配相应校正治具及砝码一套
质量保证：设备整机质保2年，软件身免费升级（人为损坏不含）
芯片拉力测试机键合推拉力测试仪操作步骤
1、准备工作：
a. 确保试验机已经正确连接电源，并且样品的固定位置已经设置好。
b. 检查试验机的所有安全设备，确保它们正常运作。
2、设置试验参数：
a. 打开试验机的控制面板或软件界面。
b. 设置试验参数，如试验速度、试验力或试验时间等，根据需要进行调整。
3、安装样品：
a. 将待测的LED样品固定在试验机的夹持装置上。确保样品稳固并正确安装。
4、启动试验：
a. 确保试验区域安全，并确保没有人员或物体处于试验机的移动范围内。
b. 按下启动按钮或通过软件启动试验机。
c. 试验机会以预设的速度开始推拉样品。
5、监测试验过程：
a. 监测试验机上显示的试验数据，如推拉力、位移或应力等。
b. 观察样品在试验过程中的变形或其他异常情况。
6、结束试验：
a. 当达到设定的试验时间、位移或其他终止条件时，停止试验机的运行。
b. 将试验机恢复到安全状态，确保样品和试验机处于稳定状态。
7、数据记录和分析：
a. 记录试验过程中的关键数据，如较大推拉力、断裂力等。
b. 根据需要，对试验数据进行分析和解释。

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