x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用**EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数:
1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)
2. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
3. 厚度检出限:0.005μm
4. 成分检出限:1ppm
5. 小测量直径0.05mm(小测量面积0.002mm²)
6. 对焦距离:0-90mm
应用领域:
广泛应用于电镀镀层厚度分析、接插件等电子元器件检测、紧固件行业、五金行业(家用设备及配件等,如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS))、汽车零部件、配饰厚度分析、新能源行业(光伏焊带丝等)、汝铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、电镀液的金属阳离子检测等多种领域。
随着科技的不断发展和创新,人们对于日常使用物品的外观和实用性要求也越来越高,于是装饰铬的应用领域也是越来越广,不管是汽车门把手,以及各种零配件,家用的卫浴,门把手等等工件上面都可以看到它们的身影。镀铬的工艺种类其实有很多,例如有防护性的装饰铬,耐磨性的镀硬铬,镀乳白铬,镀松孔铬,镀黑铬等等。
技术难点:
装饰类镀铬行业的测试难点主要体现在一下几个方面:
1.样品结构比较复杂,需要检测的区域高低不一。
2.样品表面的装饰Cr镀层一般在0.5um以下,Cr在元素周期表中靠前,其X射线荧光能量较弱,加上在异形件测试中,由于测试高度的变化,Cr荧光能量损耗严重,导致测试结果发生偏差。
3.塑料基材类的镀层,由于汽车行业的需求,镀铜镀镍层一般都很厚,底层的铜层由于Ni层较厚,铜层荧光不能穿透出来被接受,导致铜层无法测试。
4.而较薄的镀铜镍铬产品,在电镀时,塑料基体的正面和背面都有电镀,背面的铜镍的荧光可以轻易穿透基材塑料,从而被仪器接收,造成测试结果不能反映产品的真实镀层情况。
的XTD系列仪器,采用上照式的设计结构,加上自动/手动对焦以及变焦功能,轻松应对各种复杂结构的样品的测试。焦结构的设计加上EFP软件的距离补偿算法,自动补偿因测试距离变长导致的X射线荧光能量的衰减,测试结果较加准确。
产品优势:
微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)
变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm
的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也测量
公司宗旨:专注研发,生产,专精服务。
企业精神:诚信,敬业,团结,共赢。
管理理念:沟通共识,人和,包容创新。
经营理念:以人为本,以诚取胜,合作共赢。
社会责任:饮水思源,回馈社会。
苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。