呼和浩特汽车电子元件检测项目 具有CNAS/CMA资质

优尔鸿信检测拥有多种型号的工业CT，可根据客户需求提供电子元器件缺陷分析、金属零件内部孔隙及孔隙率检测、样品内部缺陷分析、样品尺寸测量、3D扫描比对及逆向工程等第三方检测服务。
IMC定义
IMC是指金属与金属、金属与类金属之间在紧密接触的界面间，通过原子迁移互动的行为，组成一层类似合金的化合物，这种化合物可以写出分子式。在焊接领域，IMC特指铜锡、金锡、镍锡及银锡等金属组合之间形成的共化物。当焊锡与被焊底金属（如铜、镍、金、银等）在高温中接触时，锡原子和被焊金属原子会相互结合、渗入、迁移及扩散，冷却固化后在两者之间形成一层薄薄的共化物，即IMC层。
焊接的重要性：
1.构成一种电子产品，绝不可能与焊锡作业无关；
2.焊锡作业的良莠可能成为产品度的关键 ；
3.焊锡作业同时也是影响制造成本高低的因素之一。
焊接的作用： 
1.起一个连接和导通的作用； 
2.起一个固定的作用。 
焊接的关键： 
在一个足够热量的条件下形成金属化合物(IMC)。
IMC的影响：
IMC本身具有不良的脆性，会损害焊点的机械强度及寿命，尤其对抗劳强度危害很大。适量的IMC是焊点强度的保证，但过厚或过薄的IMC都会降低焊点的可靠性。IMC层过厚会导致焊点脆化、易断裂；而过薄则可能无法形成有效的连接。
IMC的测量
1）IMC样品制作（切片法）
2）化学腐蚀处理 
3）金相观察 
4）扫描电镜SEM&EDS分析

FIB 测试
工作原理：基于离子源产生的离子束，在电场作用下被加速并聚焦成细束，当高能离子束撞击到目标材料时，与材料原子发生相互作用，导致材料原子的逐层剥离，从而实现的微纳加工。
常见的是 FIB-SEM 双束系统，将单束 FIB 与 SEM 技术相结合，不仅能够进行高精度的微纳加工，还能实现分辨率的成像，可同时进行离子束加工和电子束成像，大地扩展了设备的应用范围。
FIB测试需知：
样品要求：粉末样品应至少 5 微米以上尺寸，块状或薄膜样品的大尺寸应小于 2 厘米，高度小于 3 毫米，且要求导电性良好，如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理。
确定测试目的：明确是进行截面分析、芯片修复、TEM 样品制备还是其他，以便确定具体的测试流程和参数设置。
FIB测试项目：
截面分析：利用 FIB 的溅射刻蚀功能对样品进行的**切割，观察其横截面的形貌和尺寸，并结合元素分析系统对截面成分进行分析，可帮助发现由于材料不均匀分布导致的局部过热等问题。
芯片修复与线路修改：能够改变电路连线的方向，诊断并修正电路中的错误，直接在芯片上进行修改，降低研发成本，加快研发速度。
TEM 样品制备：可以直接从样品中切取薄膜，用于透射电镜（TEM）的研究，缩短了样品制备的时间，提高了制样的度和成功率。
纳米器件的制造：能够在器件表面进行纳米级别的加工，对于纳米电子器件的制造和研究具有重要意义。
材料鉴定：可利用遂穿对比图像进行晶界或晶粒大小分布的分析，也可加装能谱仪（EDS）或二次离子质谱仪（SIMS）进行元素组成分析。
FIB相关设备：
扫描电子显微镜（SEM）：利用电子束扫描样品表面，产生二次电子、背散射电子等信号成像，可观察半导体器件的表面形貌、微观结构和缺陷，如裂纹、孔洞、短路、开路等。其分辨率较高，能对失效部位进行初步定位和观察，还可结合能谱仪（EDS）进行元素分析，确定是否存在杂质或异常元素分布。
透射电子显微镜（TEM）：通过电子束穿透样品形成图像，可提供半导体器件内部原子级别的结构信息，对于分析晶体结构、位错、界面缺陷等有效，常用于研究半导体材料的微观结构和缺陷对器件性能的影响。但 TEM 对样品制备要求高，需要制备出薄的样品。
原子力显微镜（AFM）：通过检测探针与样品表面之间的相互作用力来成像，可在纳米尺度上观察半导体器件的表面形貌、粗糙度、力学性能等，还能进行局部电学、磁学等特性的测量，对于研究半导体器件的表面物理和化学性质以及纳米尺度下的失效机制具有重要作用。

PCB沾锡能力测试目的：
PCB沾锡能力测试是对Dip、SMT电子组件、PCB板、锡膏的焊锡情况进行分析。通过这一测试，可以判断焊接过程中是否会出现焊接不良、虚焊、冷焊等问题，从而确保PCB的焊接质量符合产品标准和客户要求。
PCB沾锡能力测试方法
1.锡球法：主要用于测试SMT（表面贴装技术）零件的可焊性。在此方法中，将焊锡球放置在焊盘上，然后通过加热使焊锡球熔化并润湿焊盘。观察焊锡球是否完全覆盖焊盘，以及润湿情况，从而判断焊盘的可焊性。
2.锡槽法：主要用于测试PTH（通孔技术）零件的可焊性。将PCB板垂直放入预设温度的焊锡槽中，保持一定时间后取出。观察通孔的沾锡情况，包括通孔内壁是否均匀覆盖焊锡，以及焊锡是否填满通孔等。
PCB沾锡能力测试参考标准：
IEC 60068-2-69-2007
IPC J-STD-002C-2007
IPC J-STD-003B-2007
优尔鸿信检测
以客户为中心，为客户提供全面PCB板检测服务。
实力：隶属于世界**企业；
正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；
项目：STM实验室提供从原物料到PCBA的全面的SMT检测服务；
精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性；
快速：3工作日完成报告，打破业内规则。
PCB焊锡能力检测目标：
PCB焊锡能力检测是对DIP、SMT电子元件、PCB板、锡膏的焊接状态进行研究分析。通过这一测试，可以检测在焊接过程中是否出现焊接缺陷、虚焊、冷焊等情况，从而确保PCB的焊接质量满足产品标准和客户需求。
PCB焊锡能力检测方法
1.锡球法：主要用于评估SMT（表面贴装技术）部件的可焊性。在此方法中，将焊锡球放置在焊盘上，然后通过加热使焊锡球熔化并润湿焊盘。观察焊锡球是否完全覆盖焊盘，以及润湿状况，从而判断焊盘的可焊性。
2.锡槽法：主要用于检验PTH（穿孔技术）部件的可焊性。将PCB板垂直放入预设温度的焊锡槽中，保持一定时间后取出。观察通孔的沾锡情况，包括通孔内壁是否均匀覆盖焊锡，以及焊锡是否填满通孔等。
PCB沾锡能力测试的目的与方法
PCB沾锡能力测试，是一种用于分析Dip、SMT电子组件、PCB板和锡膏的焊锡情况的方法。通过这一测试，我们可以判断焊接过程中是否存在焊接不良、虚焊、冷焊等问题，从而确保PCB的焊接质量满足产品标准和客户需求。
PCB沾锡能力测试方法
主要是两种方法来进行PCB沾锡能力测试：
1. 锡球法：这种方法主要用于测试SMT（表面贴装技术）零件的可焊性。在这个方法中，我们将焊锡球放置在焊盘上，然后通过加热使焊锡球熔化并润湿焊盘。我们会观察焊锡球是否完全覆盖焊盘，以及润湿的情况，从而判断焊盘的可焊性。
2. 锡槽法：这种方法主要用于测试PTH（通孔技术）零件的可焊性。我们将PCB板垂直放入预设温度的焊锡槽中，保持一段时间后取出。我们会观察通孔的沾锡情况，包括通孔内壁是否均匀覆盖焊锡，以及焊锡是否填满通孔等。

PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB表面绝缘性能的测试方法。在PCB制造和组装过程中，绝缘层的质量对于防止电气故障至关重要，广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等领域。PCB板表面绝缘阻抗测试的主要目的是评估PCB板表面的绝缘性能，以确保其电气安全和可靠性。
PCB板表面绝缘电阻测试过程：
给电路施加一定电压，通过测试电路的电流大小，来计算出电阻值，并记录电阻值随时间变化情况。根据表面绝缘阻抗(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。进行PCB板表面绝缘阻抗测试时，应确保测试环境的温度、湿度等条件符合测试要求，以减小外界因素对测试结果的影响。
优尔鸿信检测
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经验丰富：长期从事电子产品及零部件检测服务。
PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。

优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司旗下的成都检测中心（华南检测中心成都分支）成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技精英、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，在一张白纸上点石成金。华南检测中心迄今发展成目**大功能22个专业的实验室，主要检测设备4300余台（套），拥有1500人的管理、技术人员团队，打造了一个提供快速、精密、准确检测能力、服务网络遍及全国的大型旗舰实验室。于2003年**中国国家合格评定**（CNAS）的初次认可，检测能力获得苹果、戴尔、惠普等**客户的认可，实现［一份报告、**通行］。 检测业务主要分为：尺寸量测与3D工程、仪器校准、材料分析（金属、塑料）、有害物质检测、电子零组件失效分析、物流包装测试、可靠性分析（气候、机械）、仿真分析、热传测试、声学测试、食材检测（微生物、理化检测）、儿童玩具测试、汽车材料及零部件检测、产品认证等。