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ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广(类,27分类)
Ø升级扩展性强,通过选件可提高电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法,脉冲宽度为标规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导 ,其结果与器件实际值偏差很大)
Ø系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能,无需人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到
Ø曲线程序和数据自动存入
晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍:
带宽:500MHz
通道数:4ch
同步采样率/通道:1 GSa/s
单通道采样率:2GSa/s
记录长度:50000ptc
小垂直灵敏度:1 mV/div
垂直灵敏度:10 V/div
上升时间:700 ps
位数:8 bits
输入阻抗:1 Mohm
输入耦合:AC,DC,GND
输入电压:400 Vrms
***主时基:500 ps/div
主时基:10 s/div
时基精度:0.0025 %
触发源:外置,内置
触发模式:Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single
显示类型:Color LCD
显示尺寸:17.78 cm
程控特性/接口特性
接口:Centronics,GPIB,RS232
程控语言:Windows
ST-SP 2005晶体管测试仪
产品扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机立完成多种工作。
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