转让二手美国ZYGO球面激光干涉仪平面干涉仪

工厂转让美国ZYGO激光干涉仪，详情联系看机。

GPI系列激光干涉测量仪，运用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半径，样品表面质量，传输波前的测量和分析。可应用于：

平面和球面的面形检测 

平面楔角测量、直角棱镜的直角偏差和任意角度的加工偏差 

光学材料均匀性测量 

角锥角度和面形偏差测量 

精密盘片质量检验 

三平板**测量 

双球面**测量 

静态干涉条纹判断 

泽尼克多项式分析 

球面曲率半径测量 

GPI系列高精度激光干涉测量仪的主机为Fizeau型干涉仪，具有光学器件少，精度高，易于使用等特点。光源为低功率氖激光，光束扩展为1英寸（25mm）至 32英寸（810mm）直径，自干涉仪输出。安装在输出孔之前的标准透射器件将部分激光反射回干涉仪，形成参考波面。余下激光穿过透射器至样品。根据光束在样品表面直接反射或透射后再反射回主机，形成测量波面。根据参考波面和测量波面干涉产生的干涉条纹，可以测量样品的表面面形和传输波面质量，样品为平面或球面。如果为非平面和非球面，则需通过加装补偿片等手段进行测量。

GPI系列干涉仪采用精密移相技术和高分辨率CCD接收器件（较高可达 2048 X 2048），配合功能强大的MetroPro™软件可以获得高精确性和高质量的测量结果，其平面样品 PV**精度**λ/100 ！

 

球面样品 PV**精度**λ/140！并能模拟样品表面面形，包括鲜明的，可旋转的3D彩色图像，可选的剖面图以及各种统计数字结果等。同时，针对用户的各种样品、各种要求，可以通过提供各种精密可选附件，配合功能强大的MetroProTM软件，为用户提供**的技术解决方案并获得满意的测量结果。