非铁基涂层测厚仪 21000210 配件 产品说明书

台式x射线测厚仪可测量：单一镀层：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和饰加工行业；银行、饰销售和检测机构；电镀行业。
快速、的分析：
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度
简单的元素区分：
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱 
性能优化，可分析的元素范围大：
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准，可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
X射线测厚仪：
利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加。
纸张测厚仪：
适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
X射线测厚仪：适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料（如钢铁、镍）表面上的非导磁覆盖层厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等）。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。
镀层测厚仪可以迅速、无损、精密地对工件外表面涂镀层厚度的测量。既可用于试验室之中，也可用于各种工程现场，所以的镀层测厚仪宽泛地用在电镀、防腐、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测范围。

很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀，但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的，合格的产品才会被销往市场上，目前国产镀层测厚仪已经发展的比较完善，现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的，那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么：
基体金属特性：对于磁性方法，国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似，所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面；
基体金属厚度：国产镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否过临界厚度，如果没有，进行校准后可以测量；
边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量；
曲率：对于曲率的测量，不应在试件的弯曲表面上测量，使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的，曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量；
读数次数：通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数，覆盖层厚度的局部差异，也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时应如此；
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度，测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，保证国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰，因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候，此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向，测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。

镀层测厚仪的日常维护方法：
检修或者维修时注意关闭电源和电脑：当我们的镀层测厚仪在线上检修或者暂时不用于生产任务时，我们就要及时关闭测厚仪的扫描电源以及电脑，让其得到足够的冷却休整，在下一次开启时提个小时为镀层测厚仪通上电和打开电脑，保证开启后能够正常的维持设备的运行；
检查好水冷却机的状态：为了防止设备运行过热我们在使用镀层测厚仪时一定要注意好水冷却机内的温度要保持在30度左右，每个月我们都需要给水冷却机进行换水，防止产生水体过于污浊产生沉淀物阻碍我们设备的使用；
定期进行润滑油的换：要想我们技术化的镀层测厚仪能够正常持续的保持运转就得要定期的给扫描架的轴承进行润滑油的换，这样技能提高我们设备的运行效率又能减少镀层测厚仪扫描架在使用时的磨损；
运行过程重要注意检查工作：即便我们拥有了品质好的镀层测厚仪也不能在运行的过程中马虎大意，一定要做好运行过程中的检查工作，查看扫描架是否有不正常的震动或者是反常的声音等。

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
X射线膜层测厚仪技术参数：
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm
仪器重量：90kg
SDD半导体探测器： 
探测器输入电压：±12V，+5V
探头窗口面积：25mm-2---
探头窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探头内制冷温度：<-40℃

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