广东数字万用表销售 出售泰克370 TEK370A晶体管测试仪

高价收倒闭工厂仪器，整批或单出，评估
美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz 
通道数：4ch 
同步采样率/通道：1  GSa/s 
单通道采样率：2GSa/s 
记录长度：50000ptc 
小垂直灵敏度：1  mV/div 
垂直灵敏度：10  V/div 
上升时间：700  ps 
位数：8  bits 
输入阻抗：1  Mohm 
输入耦合：AC,DC,GND 
输入电压：400  Vrms 
***主时基：500  ps/div 
主时基：10  s/div 
时基精度：0.0025  % 
触发源：外置，内置 
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single 
显示类型：Color  LCD 
显示尺寸：17.78  cm 
程控特性/接口特性 
接口：Centronics,GPIB,RS232 
程控语言：Windows

晶体管测试仪作用
　　可测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。

晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础，以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管（NPN型和PNP型）的共**较、共基较电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压，还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。

问：什么是有载测试？
   答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，较接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪较是采用多负载可变阻抗测试精度较高。
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