超声波测厚仪标志牌

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用**EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
合金，是由两种或两种以上的金属与金属或非金属，经一定方法所合成的具有金属特性的混合物。一般通过熔合成均匀液体和凝固而得，根据组成元素的数目，可分为二元合金、三元合金和多元合金。两种或两种以上金属通过一定工艺均匀的融合在一起，就是合金，如，铜锌组成黄铜、铜锡组成青铜，铜镍组成白铜，不锈钢全部是含铬镍钛等金属的合金。
技术难点：
但由于合金中所含有的碳C，硅Si，锰Mn，磷P，铍P，硼B，镁Mg等元素能量较低，X射线无法检测到这些元素。
而XAU这款仪器，采用微聚焦加强型X射线管，搭配SDD硅漂移大面积25mm²探测器，可对地矿、合金及贵金属等物质中的Al（13）-U（92）的80种元素成分分析，检出限高达1ppm。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和*三层Ni的厚度均可测量。

达克罗是DACROMET译音和缩写，简称达克罗、达克锈、迪克龙。
达克罗表面处理工艺具有很强的耐腐蚀性能，无氢脆性，高耐热性等优点，被广泛应用在*工业、汽车零部件、电力、建筑、海洋工程、家用电器、小五金及标准件、铁路、桥梁、隧道、公路护栏、石油化工、生物工程、器械粉末冶金等多种行业中。
技术难点：
长久以来由于达克罗种类繁多，成分中又有Al等X射线无法检出的轻金属元素，X荧光法一直无法在达克罗测厚应用。
XTU可完全覆盖五金类镀种，包括达克罗检测，不但可以测量出锌铝合金镀层的厚度，还可以分析出锌铝合金的含量。

技术参数：
1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）
2. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）
3. 厚度检出限：0.005μm
4. 成分检出限：1ppm
5. 小测量直径0.05mm（小测量面积0.002mm²）
6. 对焦距离：0-90mm
公司宗旨：专注研发，生产，专精服务。
企业精神：诚信，敬业，团结，共赢。
管理理念：沟通共识，人和，包容创新。
经营理念：以人为本，以诚取胜，合作共赢。
社会责任：饮水思源，回馈社会。

苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。