x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用**EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
由于化学镍镀层成分中含有磷(P)等X射线无法检出的轻金属元素,加上在不同应用领域中,P的含量高低不一等因素,以往采用的库伦法,X射线法等测量方法都存在准确度,可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映,或者即使参与了反映,磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大,造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映,由此造成测量的误差。传统的X射线检测时,由于镀层成分中的P比例是在不停变化的,通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况,造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度,同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例,很好的反应出产品的真实情况
在实际运用中,五金行业金属表面的镀层选择是根据使用所需的性能来决定的通常包括:防护性镀层、防护-装饰性镀层、功能性镀层3种。
1、防护性镀层:主要作用是保护基体金属免受腐蚀,不规定对产品的装饰要求,如镀锌、镀镉等。
2、防护-装饰性镀层:除保护基体金属外,还使零件美观,如镀镍、镀铬、镀铜等。
3、功能性镀层:除具有一定的保护作用外,主要用于的工作目的,如满足硬度、耐磨性、导电性、电磁性、耐热性等要求,如镀锡、镀银、硬铬等。
技术参数:
1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)
2. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
3. 厚度检出限:0.005μm
4. 成分检出限:1ppm
5. 小测量直径0.05mm(小测量面积0.002mm²)
6. 对焦距离:0-90mm
XTD-200是一款于检测各种异形件,特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测,在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势;搭载全自动可编程移动平台,**,便可实现多样品的自动检测。
国内通用电子测试测量仪器企业的技术水平与国外优势企业存在一定差距,尤其是数字示波器以及任意波形发生器产品,国外企业的产品带宽和输出频率比国内的水平还高很多。这种档次划分标准主要依据产品技术门槛、批量生产、成功市场化的难易程度进行划分,综合考虑了我国通用电子测试测量仪器的整体产业现状,可以作为在当前阶段全国范围内对行业内企业的参考标准。
苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。