x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用**EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数:
1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)
2. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
3. 厚度检出限:0.005μm
4. 成分检出限:1ppm
5. 小测量直径0.05mm(小测量面积0.002mm²)
6. 对焦距离:0-90mm
的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP**算法,结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及**物层的厚度及成分含量。
随着科技的发展,越来越多的行业开始采用镀金表面处理,用于提升产品的综合质量。电镀金镀层耐蚀性强,导电性好,易于焊接,耐高温,并具有一定的耐磨性(如掺有少量其他元素的硬金),有良好的抗变色能力,同时金合金镀层有多种色调,在银上镀金可防止变色。并且镀层的延展性好,易抛光,故常用作装饰性镀层,如镀饰、钟表零件、艺术品等;也广泛应用于精密仪器仪表、印刷板、集成电路、电子管壳、电接点等要求电参数性能长期稳定的零件电镀,但由于金的价格昂贵,应用受到一定限制。
技术难点:
故此镀金产品对于镀层的管控为的严格,然而由于镀层很薄,能量弱,稳定性差,想要良好的管控成本及产品质量,就需要一台性能很好的光谱仪进行检测分析。
XAU-4CS可满足精密电子类客户对于薄金纳米级厚度的管控,实现检测同一个点的薄金厚度,差稳定在1个纳米。
自动、智能、在线检测
自动:可编程自动位移平台,**、自动检测样品;一次编程便可实现成百上千个样品点的检测
智能:实现自动AI影像智能寻点,编程档案自动匹配测试位置,在面对大批同类型样品检测时,具备明显的优势
在线:根据客户要求可个性化定制产线在线式检测,为工业4.0提供在线检测整体解决方案,提高检测效率,实现全自动智能化工厂
公司宗旨:专注研发,生产,专精服务。
企业精神:诚信,敬业,团结,共赢。
管理理念:沟通共识,人和,包容创新。
经营理念:以人为本,以诚取胜,合作共赢。
社会责任:饮水思源,回馈社会。
苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。