声波测厚仪性能 .500-.750" 电线范围 工作原理

X射线测厚仪工作原理、结构特性:
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度.
适用范围：生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套
，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中， x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧
和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
系统构成：
■ 用户操作终端
触摸屏用户操作终端包括一个的计算机和高分辨率的彩色显示器。可显示整个系统的检测、设定、偏差值；用户通过软件显示页面可直接控制和操作测厚仪。主操作页显示正常操作所需的各种数据。维护页面显示系统正常工作时各种参数高压反馈、管电流、灯丝电流、射线源温度等。一些与用户质量有关的重要数据如厚差曲线、厚度与长度关系曲线均可打印。技术员能很容易地通过操作终端的报表打印功能，打印出来以显示可用信息。
■ 冷却系统
本系统配备有冷却装置，该装置的关键部件，压缩机组均采用进口原装组件，具有可靠性高、噪音小、控温精度高，经久耐用等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。了关键部件的使用寿命。
■ X射线**源及接收检测头
采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却，高压等级根据有所区别，加上传感器具有的温度自动保护与报警功能，提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，系统的使用寿命。
■ 主控制柜
主控制柜是一个自由立式控制台，是个系统的心脏。根据制系统配置不同，P型采用S7-400PLC作为控制计算中心；G型采用工控机为控制计算中心。控制柜负责采集和处理从前置放大器传来的信号，负责测厚仪数据处理和与轧机AGC系统的接口信号输出，为轧机AGC系统提供测厚数据及控制信号。控制柜还提供整个系统稳定的电源和现场显示器的显示数据。
镀层测厚仪关键有以下功能优点：
测量速度快，具有单次和连续2种测量方式可选择；
精度高 ，自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质；
镀层测厚仪稳定性高，操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示；
功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法：覆层厚度的测量方法关键有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线测厚仪thick800a是天瑞仪器研制的检测金属厚度的仪器，已经在电镀行业得到大规模的应用，深受客户。仪器采用特的上照式机构，能够适应各种不规则和体积大小样品的表面镀层测试。三维自动平台，可实现X/Y/Z轴的自动定位，操作性能好。产品实际性能同类三年以上。X射线电镀层膜厚仪介绍及图片：

镀层测厚仪的日常维护方法：
检修或者维修时注意关闭电源和电脑：当我们的镀层测厚仪在线上检修或者暂时不用于生产任务时，我们就要及时关闭测厚仪的扫描电源以及电脑，让其得到足够的冷却休整，在下一次开启时提个小时为镀层测厚仪通上电和打开电脑，保证开启后能够正常的维持设备的运行；
检查好水冷却机的状态：为了防止设备运行过热我们在使用镀层测厚仪时一定要注意好水冷却机内的温度要保持在30度左右，每个月我们都需要给水冷却机进行换水，防止产生水体过于污浊产生沉淀物阻碍我们设备的使用；
定期进行润滑油的换：要想我们技术化的镀层测厚仪能够正常持续的保持运转就得要定期的给扫描架的轴承进行润滑油的换，这样技能提高我们设备的运行效率又能减少镀层测厚仪扫描架在使用时的磨损；
运行过程重要注意检查工作：即便我们拥有了品质好的镀层测厚仪也不能在运行的过程中马虎大意，一定要做好运行过程中的检查工作，查看扫描架是否有不正常的震动或者是反常的声音等。

很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀，但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的，合格的产品才会被销往市场上，目前国产镀层测厚仪已经发展的比较完善，现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的，那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么：
基体金属特性：对于磁性方法，国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似，所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面；
基体金属厚度：国产镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否过临界厚度，如果没有，进行校准后可以测量；
边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量；
曲率：对于曲率的测量，不应在试件的弯曲表面上测量，使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的，曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量；
读数次数：通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数，覆盖层厚度的局部差异，也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时应如此；
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度，测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，保证国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰，因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候，此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向，测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
X射线膜层测厚仪技术参数：
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm
仪器重量：90kg
SDD半导体探测器： 
探测器输入电压：±12V，+5V
探头窗口面积：25mm-2---
探头窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探头内制冷温度：<-40℃

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