x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用**EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪!
此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。
合金,是由两种或两种以上的金属与金属或非金属,经一定方法所合成的具有金属特性的混合物。一般通过熔合成均匀液体和凝固而得,根据组成元素的数目,可分为二元合金、三元合金和多元合金。两种或两种以上金属通过一定工艺均匀的融合在一起,就是合金,如,铜锌组成黄铜、铜锡组成青铜,铜镍组成白铜,不锈钢全部是含铬镍钛等金属的合金。
技术难点:
但由于合金中所含有的碳C,硅Si,锰Mn,磷P,铍P,硼B,镁Mg等元素能量较低,X射线无法检测到这些元素。
而XAU这款仪器,采用微聚焦加强型X射线管,搭配SDD硅漂移大面积25mm²探测器,可对地矿、合金及贵金属等物质中的Al(13)-U(92)的80种元素成分分析,检出限高达1ppm。
XTD-200是一款于检测各种异形件,特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测,在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势;搭载全自动可编程移动平台,**,便可实现多样品的自动检测。
达克罗是DACROMET译音和缩写,简称达克罗、达克锈、迪克龙。
达克罗表面处理工艺具有很强的耐腐蚀性能,无氢脆性,高耐热性等优点,被广泛应用在*工业、汽车零部件、电力、建筑、海洋工程、家用电器、小五金及标准件、铁路、桥梁、隧道、公路护栏、石油化工、生物工程、器械粉末冶金等多种行业中。
技术难点:
长久以来由于达克罗种类繁多,成分中又有Al等X射线无法检出的轻金属元素,X荧光法一直无法在达克罗测厚应用。
XTU可完全覆盖五金类镀种,包括达克罗检测,不但可以测量出锌铝合金镀层的厚度,还可以分析出锌铝合金的含量。
虽然国内通用测试企业的发展速度相比于**竞争对手较迅速,在技术指标和市场销量上的差距在缩小,部分产品的技术指标也迈入了行列,但受限于技术水平和其他元器件开发实力,在高性能产品领域依然是优势企业的天下。以占据通用电子测试测量仪器行业份额的数字示波器为例,目前**带宽的数字示波器是是德科技110GHz示波器,而国内数字示波器产品曾长期停留在数百MHz以下的带宽,近两年有所突破,但能达到批量货架产品的带宽也就2GHz上下,也于一两家企业。不过因为国内市场较为庞大,加上国内通用测试仪器企业的快速追赶,国产数字示波器的出货量占比逐年增加。
苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。