汽车前组合灯环境耐候性试验-AECQ认证-太阳辐射测试

汽车IC的市场相较于资通讯科技(ICT)产业的*大差异为市场较为封闭，且前期的开发及验证期可能长达3年，对闽台、中国大陆IC业者已习惯即时上市(Time to Market)的运作模式相悖，**理念也不尽相同，本文将说明AEC-Q100的IC验证规范并解析晶片商如何满足车厂/模组厂客户的需求，探讨焦点将放在2014年9月新改版规范AEC-Q100 H版的要求进行解读。
汽车车灯电子元器件AEC-Q102认证
目前汽车产业中针对于零件及品质系统标准的就是AEC(汽车电子)，针对于主动零件所设计出的标准为[AEC-Q100]，针对于被动元件设计为[AEC-Q200]，其规范了被动零件所必须达成的产品品质与可靠度。
AEC-Q102是基于集成电路应力测试认证的失效机理。
自2017年3月份以来，车灯光器件按照*新的AEC-Q102进行认证测试。如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果，那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q102认证。供应商可以与客户协商，可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些，但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q102认证。

零件工作温度等级的定义
零件工作温度等级定义如下：
0等级：环境工作温度范围-40℃-150℃
1等级：环境工作温度范围-40℃-125℃
2等级：环境工作温度范围-40℃-105℃
3等级：环境工作温度范围-40℃-85℃
4等级：环境工作温度范围0℃-70℃
AEC-Q102认证的要求及目的：

应力测试失效后的定义：
测试失效定义为器件不符合用户个别的器件规格，应力测试后的测试标准规范，或是供应商的数据表。任何由于环境测试导致的外部物理破坏的器件也要被认为是失效的器件。如果失效的原因被厂商和用户认为是非正确运转、静电放电或一些其他与测试条件不相关的原因，失效就算不上，但作为数据提交的一部份上报。供应商必须描述每个应力测试的参数失效标准作为向用户提交认证数据的一部分以批准。每种器件类型建议的参数清单应包含在每种器件类型测试表格的后面。
电子元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光**显微像、OBIRCH。
我实验室元器件失效分析设备能力：
电性测试：LCR阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、ESD测试仪、探针台、半导体参数分析仪、**图示仪、可编程电源、电子负载、示波器、频谱分析仪、数字/模拟集成电路测试机台、电磁继电器测试系统。

汽车元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光**显微像、OBIRCH。

广电计量（GRGT），是一家技术型的电子产品第三方检测、分析技术服务机构，以从事电子产品可靠性与失效分析、材料理化检测以及相关技术咨询与技术培训服务为主。广电计量目前拥有相当规模的失效分析、可靠性与环境模拟试验、金相切片与扫描电子显微镜等材料理化检测的第三方检测实验室，通过了CNAS国家实验室认可以及ILAC-MRA实验室联合互认审核，本实验室是严格按照ISO/IEC17025，GUIDE25与EN45001实验室管理规范组织建立，且遵循“科学、、**、创新”的理念，以成为“您身边*近的实验室”为服务宗旨。目前已获得众多认证机构的认可，而且与上海电子电器产品质量技术监督研究院、复旦大学科技园等国家机构有着良好的合作。我们拥有一批经验丰富的技术及**而且的服务队伍，可为您提供失效分析、可靠性验证、环境模拟试验、标准咨询、元件选择、品质测试、供应商审核、工艺整改及第三方性认证等“一站式”服务，将保证您用*短的时间、*合理的费用，解决各类产品设计、工艺、验证技术难题,让您的产品通向世界！

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