冲击试验主要用来确定电工电子元器件、设备及其他产品在使用和运输过程中承受非多次重复的机械冲击的能力,以评价其对冲击环境的适应性和结构完好性,其次是用于微电子器件内强度试验。冲击试验还可以作为产品满意设计和质量控制手段。
冲击试验的方法有三种:一是规定冲击脉冲波形的方法;二是规定冲击机的方法;三是规定冲击响应谱的方法。通常方法一称为冲击试验,方法二称为强碰撞冲击试验,而碰撞试验属于规定冲击脉冲波形的方法。
冲击试验是瞬间性的、破坏性的。理论上跌落试验也算是冲击的一种,一般冲击试验机是将物品固定在平台上,然后将平台上升,利用重力和加速度冲击。碰撞试验可以看做重复性的冲击累加,但是碰撞试验一般是利用物体动能来测试的。碰撞试验有平面的,也有斜面的。
电磁式振动试验台三个测试的主要别是加速度大小和冲击时间长短的区别,振动测试是疲劳测试,要进行长时间的不断测试,而碰撞测试和冲击测试一般都是单次测试,碰撞测试要比冲击测试的能量要小,冲击测试是破坏性的测试,一般会对被测件造成物理上的损害。
振动试验的目的是模拟一连串振动现象,测试产品在寿命周期中,是否能承受运输或使用过程的振动环境的考验,也能确定产品设计和功能的要求标准。振动试验的定义在于确认产品的可靠性及提前将不良品在出厂前筛检出来,并评估其不良品的失效分析使其成为高水平,高可靠性的产品。
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