低本底大面积 α 屏栅电离室
2.1 屏栅电离室的结构和主要参数
为防止样品制备过程中丢失核素,也为省去通常比较费时的化学分离,把待测介质薄薄地铺成大面积薄样是很理想的 α 能谱分析方法。
2.2 大面积源样品的制备
为利用屏栅电离室进行 α 能谱分析,制备出符合要求的大面积均匀薄源是十分关键的。假若样品本身不够薄 和不均匀,那探测器本身的能量分辨本领再高也是没有用的,低本底,因为样品自吸收会产生很大的 α 能谱的“尾巴 ”,从而使对 α 能谱的分辨本领遭到严重破坏。
低本底介绍
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性能稳定、设计紧凑,使用操作方便。以大面积薄窗流气式正比计数管为探测器(?60mm),用专门设计的屏蔽计数管与测量计数管进行反符合,以降低周围环境性对测量的干扰。用精选“老铅”作成厚铅室屏蔽外来辐射。因此,该仪器检测灵敏度高、本底低。能量响应好,对14C低能β射线的探测效率≥40%。**半导体、闪烁体为探头的同类检测仪。采用计算机数控操作,不外设开关旋钮。通过程序控制可以自行检测计数管的坪特性,设定计数管的工作点,自行检测仪器本底计数率,并在对样品的检测时自行扣除本底计数,低本底哪家好,对结果进行修正。结合使用标准源,可以自行校准仪器的探测效率。自动处理检测结果。可以直接得到被测样品的性比活度Bq/L或Bq/Kg等。
低本底测量仪主要技术指标
主要技术指标
仪器对于90Sr-90Yβ源(活性区Φ20mm)的2π探测效率比≥50%时,低本底公司, 本底≤0.15cm-2min-1;
仪器对于241Amα源(活性区Φ25mm)的2π探测效率比≥80%时, 本底≤0.005cm-2min-1;
α/β交叉性能:α进入β道的计数比<3%(对241Am), β进入α道的计数比<0.5%(对于90Sr-90Y);
长期稳定性
重复性:仪器连续通电8小时,探测效率变化<±10%;
本底稳定性:在8小时的测量时间内,本底计数变化应在(Nb±3σ)的范围内,其中Nb为本底计数的平均值,σ为本底计数的标准误差。
仪器灵敏度:α≥5×10-3Bq;β≥1×10-2Bq
耐压绝缘度>1500V;
绝缘电阻≥2MΩ;
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