大同槽钢冷热冲击试验价格优惠

冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱，冷热循环试验箱；用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，*工业、航天、业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具 执行满足标准及试验方法 GJB150.5 温度冲击试验 GJB360.7温度冲击试验 GB/2423.22 温度冲击试验 冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。 冷热冲击试验作为一种测试方法，应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的： 工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷； 产品定型或设计和批产阶段验收决策提供依据； 作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。 常见的执行标准 GJB 150《设备环境试验方法》 GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》

在特定时间内进行温度变化，转换时间一般设定为手动2～3 分钟，自动少于30 秒，小试件则少于10 秒。常用术语中的温度冲击试验也属于冷热冲击试验。 此试验有几个重要参数需要考虑：循环数、温度转换时间、温度保持时间、温度极限值（因此项试验为存储类试验，故其极限值为存储极限温度值）。参考参数设置如表所示，具体的循环数来源为加速模型计算出来的一个经验数值。 参考标准 GB/T2423.22环境试验 2部分：试验方法 试温度变化 GJB150.5设备环境试验方法_温度冲击试验 GJB360.7电子及电气元件试验方法 温度冲击试验 GJB367.2通信设备通用技术条件 环境试验方法

冷热冲击试验的作用检测产品测试标准冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度变化的影响。用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。

冷热冲击试验箱 高低温冲击试验箱主要应用于半导体器件、电子产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。 立式两箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录，设有多种安全保护措施及装置。 满足MIL-STD-810D方法0GB2423.22-89Na、GJB1505-86等。 执行与满足标准 ．GJB150.5-86温度冲击试验 ．GB2324.22-89试验Na ．GB2423.1-89试验A低温试验方法 ．GB2423.2-89试验B高温试验方法 ．GJB360.7-87温度冲击试验 ．GJB367.2-87温度冲击试验 适用范围 主要用于电工、电子产品、材料及各种零部件的高低温冲击试验和周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验

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