技术规格: - 测量行程: 200 x 200 x 25mm (XYZ) - 平台运行: 交叉滚轴手动同轴定位和快速释放 - 视场内的测量精度: 0.010µm (用100x物镜) - 特征尺寸: 视场内0.5µm - 400µm - FOV测量重复性: <0.010µm on wafers (用100x物镜) <0.005µm on photomasks (用100x物镜) - 照明: 石英卤素灯, 反射光 自动照明 - 低噪音CCD VGA格式摄像头 - 图像处理60帧每秒 MicroLine 300的典型应用包括: l 晶圆 l 光罩 l MEMS l 微型组件 测量类型: n 关键尺寸: 线宽 Linewidth 节距 Pitch 间隙 Spacing n Overlay Multi-layer registration Box in box Circle Edge roughness Butting error