肇庆检测中心冷热冲击测试怎么办理

冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。冷热冲击试验作为一种测试方法，应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的：1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据；3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。冷热冲击测试常见的执行标准1、GJB 150《设备环境试验方法》2、GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》冷热冲击试验又名冷热冲击试验或高低温冲击试验，是将试验样品交替暴露于低温和高温空气（或合适的惰性气体）中，使其经受温度变化的影响。用以确定元件，设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力。温度冲击试验是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。温度冲击试验参考标准：GB/T 2423.22; IEC 60068-2-13；IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202；GJB 150.5等。温度冲击试验的目的：1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据；3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。温度冲击试验应用领域：道路交通类：道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等计算机类：电脑、显示屏、主机、电脑元器件、设备等精密仪器等电子通信类：手机、射频器、电子通信元器件等，PCB、PCBA。电器类：家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、器械；其他：包装箱、运输设备等。设备型号：CJ602S3 Ⅰ试验温度范围：-75℃～200℃高温设定范围：+60℃～+200℃低温设定范围：0℃～-75℃温变速率：≤5Min冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱，冷热循环试验箱；用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，*工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具执行满足标准及试验方法GJB150.5 温度冲击试验GJB360.7温度冲击试验GB/2423.22 温度冲击试验冷热冲击试验又名温度冲击试验或高低温冲击试验，是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。可以说冷热冲击试验箱在验证和提高装备的环境适应性方面应用的频度仅次于振动与高低温试验。冷热冲击试验作为一种测试方法，应用在产品研制的不同阶段时有不同的目的：1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据；3、作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。常见的执行标准1、GJB 150《设备环境试验方法》2、GB 2423《电工电子产品基本环境试验规程》冷热冲击试验箱高低温冲击试验箱主要应用于半导体器件、电子产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。立式两箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录，设有多种安全保护措施及装置。满足MIL-STD-810D方法032、GB2423.22-89Na、GJB1505-86等。执行与满足标准．GJB150.5-86温度冲击试验．GB2324.22-89试验Na．GB2423.1-89试验A低温试验方法．GB2423.2-89试验B高温试验方法．GJB360.7-87温度冲击试验．GJB367.2-87温度冲击试验适用范围主要用于电工、电子产品、材料及各种零部件的高低温冲击试验和周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。基本特点．内胆采用不锈钢板、外壳采用冷轧钢板静电粉末喷涂．中空电热膜玻璃观察窗．两箱式上下结构：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经传动机构在两箱间移动。循环过程自动控制，停留及转换时间可调。．工作室设有照明装置．具有累计计时功能．采用进口可编程程序控制器．完善的保护报警功能：具有短路、漏电、工作室**温；压缩机**压、过载、油压、断水标准配置及选配件．标准配件：50测试孔、照明灯、观察窗、记录仪．可选配件：RS232（RS485)通讯接口及计算机、打印机

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