林上LS230涡流测厚仪的简单介绍

涡流测厚仪/tech/tech554.html）顾名思义就是用电涡流的原理制成的涂层测厚仪。涡流测厚法简单来说就是使用测头或者探针使导电基材表面的非导电材料的表面发生一定深度的瞬间震荡电流回路。涡流的大小会直接主要受基体材料的导电性能和基材表面的涂层厚度的影响。当镀层比较薄时则会有比较强的电流通过基体，则会有较高的旋涡。当表面的镀层比较厚时，通过基材的电流就会减弱。通过这种方法我们可以计算出涂层的厚度。所以涡流测厚仪一般用来检测磁性金属基体上的非磁性涂层的厚度。林上科技生产的涂层测厚仪采用磁性测厚法和涡流测厚法，仪器的具体参数如下：
测头	红宝石
检测原理	Fe:霍尔效应 / NFe:电涡流效应
探头类型	内置一体式
检测范围	0.0-2000μm
分辨率	0.1μm:（0μm - 99.9μm）
1μm:（100μm - 999μm）
0.01mm:（1.00mm - 2.00mm）
检测精度	≤±(3%读数+2μm)
单位	μm / mil
检测间隔	0.5s
检测区域	Ø = 25mm
曲率半径	凸面:5mm / 凹面:25mm
基体厚度	Fe:0.2mm / NFe:0.05mm
显示	128×64点阵耐低温OLED
供电方式	2节 1.5V AAA碱性电池
工作温度范围	-40℃ - 50℃
存储温度范围	-50℃ - 60℃
主机大小	101*62*28 mm
重量（含电池）	79g
林上涡流测厚仪采用红宝石测头不仅增加了仪器的使用时间。而且检测速度快数据稳定检测精度高。新出款的耐低温仪器会使您在零下40摄氏度的环境下使用**。普通的涂层测厚仪根本不具备这个功能。在零下20摄氏度的环境下就会出现白屏或者卡顿的象限，林上科技生产的涂层测厚仪不仅采用了涡流测厚仪还采用了磁性测厚法。既可以用于检测磁性金属基体上的非磁性材料的涂层厚度，又可以用于检测非磁性金属基体上的非导电涂层的厚度。使用非常广泛。