铝合金铸造直读光谱仪

通常来说，光谱仪有三个重要组成部分：狭缝（Slit）、色散元件（Dispersive element）、检测器（Detector）。在光谱仪性能评价中，重要的评价指标之一便是色散能力（Dispersive power）。
简单而言，就是色散元件能够把复色光分散到多宽的范围上，光被分散地越宽，光谱仪的分辨率自然越好。
可以看到，焦平面越远，刻线越密，色散能力越强，后者受到光栅制作工艺限制，传统的光谱仪往往在上下功夫，这也是光谱仪做的比较大的原因。
然而，值得注意的是，你把光谱仪的分辨能力提得越高，虽然波长相近的光能够被区分地较好，但其代价就是一定长度的detector上所能展现的光谱范围变小了，所以，当光栅光谱仪发展到一定阶段后，人们发现重要的问题又出现在了检测器（detector）这一侧。
检测器
感光元件是直读光谱仪的**，元器件的好坏关系到精密仪器的精度。直读光谱仪（OES）的**元件有三种,一种是广泛使用的CCD（电荷耦合）元件；另一种是CMOS（互补金属氧化物半导体）器件,还有一种是PMT光电倍增管。
以上的器件都是光谱仪的**器件，元件的质量对光谱仪的种类来说很重要。

对于谱线的选择很大程度决定着该元素的精度，那么我们要怎么来选择合适的谱线，谱线的选择取决于以下几个因素。
1.分析仪器厂家对分析谱线的经验，知道哪条线适合所生产的光学系统和光源，所选用的谱线不受其他元素线的干扰。
2.含量范围，元素不同谱线，强度不同，所以谱线可能满足不了用户提出的含量范围，有时需要选择两条谱线。
3.元素间的相互干扰，在分析元素的谱线侧旁存在另一元素的谱线时，而且该元素的含量很高，它将会使所要分析的元素谱线强度增加。因此，得出的分析含量会比实际的高。选择谱线时要减少这种元素间干扰效应。
4.特殊的聚焦，通常由于**谱线相互很近，有时必须采用光学系统部件进行补偿。

随着使用时间的推移，光室、光学器件会发生非常微小的形变，就是这些微小的形变都会引起光路细微的漂移，从而导致仪器测试精度和准确度的改变，而且这个漂移会随着时间的延迟表现的越来越明显，如果要再次提高仪器的性能就需要人为的调整参数来修正这部分漂移，从而改善光谱仪的性能。

光谱仪在分析的过程中，电火花燃烧样品表面会产生金属粉尘，大部分的金属粉尘都会随着氩气吹扫排到过滤罐中，然而也会有少部分金属粉尘会停留在激发室里，时间长了会堆积污染激发室和光学透镜，引起测量数据波动，误差变大，所以需要定期的清理来改善激发室环境，改善测量数据。
光谱仪在使用的过程中，会有一部分金属粉尘、金属屑、灰尘掉落到仪器内部电路模块上，如果不及时清理可能会导致电路模块短路，一些**的电路板损坏维修费用会很高，所以需要及时的清理仪器内部灰尘，保证电路的正常运行。

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