干膜测厚仪LS221用于测量干膜厚度

　干膜测厚仪广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。在这里还要特别强调一下，干膜测厚仪/tech/tech558.html）的探头只能测干膜不能接触到水或湿的物质。
　　在大家在使用的过程中一定得严格按照使用说明进行这样才能够不浪费我们高价买来的仪器所能够给我们带来的**。使用完成后一定要妥善清洁保管。
　　林上LS221干膜测厚仪产品参数：
　　测头**：红宝石固定
　　测量原理：Fe：霍尔效应/NFe：电涡流效应
　　探头类型：外置连线式
　　测量范围：0.0-2000μm
　　分辨率：0.1μm：(0μm-99.9μm)
　　1μm：(100μm-999μm)
　　0.01mm：(1.00mm-2.00mm)
　　测量精度：≤±(3%读数+2μm)
　　单位：μm / mil
　　测量间隔：0.5s
　　较小测量区域：Ø = 25mm
　　较小曲率半径：凸面：5mm 凹面：25mm
　　较小基体厚度：Fe：0.2mm/NFe：0.05mm
　　显示：128×48点阵LCD
　　干膜厚度的测量，必须在涂膜完全干燥后，采用干膜测厚仪进行测定。常用的干膜测厚仪有：磁性测厚仪、固定探头测厚仪、涡流仪和破坏性测厚仪。磁性厚度仪是目前广泛应用的，其中有一种笔式测厚仪，用于现场检查十分便捷，不用于精密检查。测量时，必须使笔尖的磁探头接触并垂直于涂层表面，当弹簧的张力**过探头对铁基体的引力时，其笔**的磁探头从涂层表面断开，其分开瞬间的读数即为干膜厚度。