国产ICP-MS第三方检测

质谱干扰主要分为以下两类：
1.多原子干扰(Polyatomic) – 与目标同位素原子质量重合的多原子离子，所带来的干扰
解决办法：1、参数调谐：载气、采样深度等
2、使用碰撞反应池技术
2. 同量异位素干扰(Isobaric) –与目标同位素原子具有相同质量数的原子带来的干扰(目标 原子与干扰原子的质子数和中子数都不同，但(质子数+中子数)相同)；也包括质荷比相等 的不同元素离子形成的干扰。
解决办法：选择合适的同位素

ICP-MS分析流程的建立
对于一种新基体的样品来说，常规的分析路径如下：
1. 酸化或溶解样品 样品一般需要**行酸化溶解使目标元素溶解在液体中.
2. 选择目标分析物和目标同位素 根据浓度范围来选择分析物和同位素。
3. **行扫描以便识别出存在的干扰
可以**行半定量扫描，可以通过半定量扫描判断大致存在哪些元素以及各个元素 的大致浓度范围。
4. 选择数据的采集模式以及校正曲线的类型 一般如果使用连续流的数据采集模式，会使用外标定量法。也有其他的数据评估方
法可以使用。
5. 选择合适的内标元素 内标元素的使用可以校正由于时间或基体抑制效应引起的信号漂移。
6. 能进行基体匹配
将标样的基体匹配到和您的样品基体完全一致，可以将两者之间的差异减小到小， 并且有助于得到较为准确的结果数据。
7. 进行质量控制校正（QC check）
在分析过程中插入另一来源的标样(2nd Source Standard)或者有证标准物质 (Certified Reference Material)，确保数据的完整性。

采用PlasmaMS 300进行分析时样品注意事项：
很多样品的初始状态并不适合直接上机测试，例如:
固体样品 浑浊样品(Heterogeneous)
待测元素含量过高 (**SMAMS 300的动态线性范围大约是 100ppm)
高基体 (我们建议**SMAMS 300上机样品TDS <0.2%w/v，TDS为总固态可溶物含量
Total Dissolved Solids)
由于以上原因，我们需要先将样品转换成液体形态。一般来说，HNO3是比较理想的选择， 但有时候由于样品基体的原因，无法使用HNO3---例如**样品和钢铁样品等。如果可以 使用HNO3，2% HNO3是比较适合**SMAMS 300分析上机的。因为的HNO3加入一般不会增加 多原子干扰，同时，高纯度HNO3比较容易买到。
其他类型的酸试剂都会带来额外的干扰。例如：添加HCl来溶解样品，会产生ClO & ArCl， 因此会干扰V & As的测定。磷酸和硫酸的添加会干扰Ti & Zn的测定。
我们建议 **SMAMS 300 的样品溶解并稀释到以下范围：
< 0.2% w/v TDS(Total Dissolved Solids)

PlasmaMS 300 的ICP部分
由于ICP是一个开放式的等离子体系统，始终处于电离与平衡的过程之中，因此ICP并不 能够承受大量液体样品的引入，因此采用雾化器，雾室这样的进样系统。 通过蠕动泵使样品不断到达雾化器，雾化器把液体样品喷射成颗粒细微的气溶胶，雾室去 除大颗粒的气溶胶，保证颗粒较小的气溶胶引入ICP中。伴随着在炬管中心管中的温度逐 渐升高，样品发生了一系列物理变化，终形成离子。 由于样品气溶胶始终被气体所推动，因此整个样品离解过程是非常迅速的。而在雾化器中 形成的气溶胶绝大多数都被形成废液后排除，真正到达ICP的样品其实非常有限。 ICP中的离子：气态元素原子失去电子形成的物理性离子，与溶液中的离子完全不同 之所以采用ICP源是因为只有足够高的温度才能提供能量实现样品中的化合物离解和气化 以及电离。
等离子体具有很高的温度（8000-10000K），在这个温度下大多数元素从原子变为带电离 子，以离子形态进入一级真空系统。
氩气等离子体具有一个典型特点：即使样品中有许多元素，在通过等离子体时，绝大多数 元素都会形成单电荷正离子。

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