MiniTest7400高精度涂层测厚仪

德国EPK(Elektrophysik)公司全新的MiniTest7400高精度涂层测厚仪

MiniTest7400高精度涂层测厚仪特点
- 高精度涂层测厚仪
- 所有金属基材上的非破坏性测量
- 多种图形显示选项
- 菜单控制界面，较强的数据和配置管理
- 用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件
- 测量厚度高达35mm的各种耐磨探头
- SIDSP?技术提升精确度和重现性
涂层测厚仪MiniTest7400

MiniTest7400高精度涂层测厚仪主机
技术参数MiniTest7400	 
数据记忆组数	500
存储数据量	约250000个读数
统计值(每批组)	读数个数，较大值，较小值，平均值，标准偏差，变异系数，组统计值(标准设置/自由配置)，过程能力指数CP和CPK，直方图，趋势图
校准程序符合**标准和规范	ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准
校准模式	较多5点校准，使用者可调节补偿值
极限值监控	声音、视觉报警提示**过极限值
测量单位	μm，mm，cm，mils，inch，thou
操作/存放温度	-10℃~60℃/-20℃~70℃
数据接口	IrDA?1.0红外接口，可选USB和RS232适配器
电源	4节AA(LR06型)电池，或可选外接电源(90－240V～/48－62Hz)
规范和标准	160x160像素LCD带背光
显示	153mmx89mm32mm
尺寸	 
重量	310g；(主机包括电池)


MiniTest7400高精度涂层测厚仪探头参数
标准探头	HD探头	量程	低端
分辨率	误差	重复性
(标准偏差)	较小曲率
半径
(凸/凹)	较小测量
区域直径(无测量标准)	
较小测量
区域直径(有测量标准)

较小基
体厚度
F05	F05HD	0~0.5mm	0.02μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	0.3mm
F1.5	F1.5HD	0~1.5mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	0.3mm
F1.5-90	 	0~1.5mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	0.3mm
 	F2HD	0~2mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	-	0.5mm
F5	F5HD	0~5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	0.5mm
F15	 	0-15mm	1μm	±(5μm±0.75%)	±(2.5μm±0.5%)	5/25mm	25mm	25mm	1.0mm
F35	 	0-35mm	5μm	±(20μm±0.75%)	±(10μm±0.5%)	50/50mm	100mm	-	1.5mm
N0.2	N0.2HD	0~0.7mm	0.02μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	40μm
N0.7	N0.7HD	0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	40μm
N0.7-90	 	0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	40μm
N2.5	N2.5HD	0~2.5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	40μm
N7	 	0~2.5mm	1μm	±(5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	15/25mm	23mm	20mm	40μm
FN1.5
FN1.5HD	F：0~1.5mm
N：0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	F：0.3mm
N：40μm
FN1.5-90	 	F：0~1.5mm
N：0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	F：0.3mm
N：40μm
F**	F**HD	F：0~5mm
N：0~2.5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	F：0.5mm
N：40μm
注：HD探头是针对于油漆或粉尘污染等恶劣环境设计的坚固探头，F2HD特别适用于粗糙表面。

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