随着使用时间的推移,光室、光学器件会发生非常微小的形变,就是这些微小的形变都会引起光路细微的漂移,从而导致仪器测试精度和准确度的改变,而且这个漂移会随着时间的延迟表现的越来越明显,如果要再次提高仪器的性能就需要人为的调整参数来修正这部分漂移,从而改善光谱仪的性能。
通常来说,光谱仪有三个重要组成部分:狭缝(Slit)、色散元件(Dispersive element)、检测器(Detector)。在光谱仪性能评价中,重要的评价指标之一便是色散能力(Dispersive power)。
简单而言,就是色散元件能够把复色光分散到多宽的范围上,光被分散地越宽,光谱仪的分辨率自然越好。
可以看到,焦平面越远,刻线越密,色散能力越强,后者受到光栅制作工艺限制,传统的光谱仪往往在上下功夫,这也是光谱仪做的比较大的原因。
然而,值得注意的是,你把光谱仪的分辨能力提得越高,虽然波长相近的光能够被区分地较好,但其代价就是一定长度的detector上所能展现的光谱范围变小了,所以,当光栅光谱仪发展到一定阶段后,人们发现重要的问题又出现在了检测器(detector)这一侧。
检测器
感光元件是直读光谱仪的**,元器件的好坏关系到精密仪器的精度。直读光谱仪(OES)的**元件有三种,一种是广泛使用的CCD(电荷耦合)元件;另一种是CMOS(互补金属氧化物半导体)器件,还有一种是PMT光电倍增管。
以上的器件都是光谱仪的**器件,元件的质量对光谱仪的种类来说很重要。
光谱分析仪器的分析的过程是将被测物质的试样引入光源中,给以外界的能量,使试样蒸发成气态原子,并且使气态原子的外层电子由低能态激发能态,处于高能 态的原子很不稳定要跃迁至基态或低能态,便产生了。由于被分析试样中含有不同的原子就会产生不同波长的,对于所产生经过摄谱仪进行分光就会在 感光板上得到按波长顺序排列的有规则的谱线,通过仪器的观察辨认各种特征波长的谱线存在情况就是光谱定性分析。如果用光谱分析仪器进一步测量就是光谱的定 量分析。
全谱直读光谱仪的优点在于全元素的分析,同时分析样品中的多种元素,十几或者几十个元素的含量。与碳硅仪不同,全谱直读光谱仪不能分析铁水,虽然在原理上它能分析所有的元素,但是在实际应用中,它仅能分析固体样品,需要等铁水固定后才能进行检测。
当炉前分析厂家不仅仅需要分析碳含量与硫含量,还要检测一些别的含量时,就轮到全谱直读光谱仪上场了。比碳硅仪的铁水分析能得到更多元素,直观得到更多数据。
全谱直读光谱仪的难点是碳,硅等,因为空气会干扰并且影响到这些元素,当需要测量时,全谱直读光谱仪需要进行真空或者冲氩处理,使检测时没有空气干扰,这样检测结果会比较准确。
当今市场中,越来越多的客户选择购买全谱直读光谱仪来进行炉前检测,一是因为它全元素的覆盖范围,二是因为全谱直读较广泛的应用,三是分析精度很高。因此许多炉前分析的厂家选全谱直读光谱仪,而没有购买碳硅仪,但是全谱直读光谱仪不能直接分析铁水,在选购时还是应该根据需求考虑清楚。
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