宝山区IC测烧生产厂家 诚信服务 优普士电子供应

代客IC测烧流程：

1．确认客户需求：确认客户的IC种类.，包装，数量及要求服务项目；若为尚未支援的新IC，则请工程师申请升级。

2．报价：按烧录时间表长短及服务项目多少计价；若需特殊治具的客制IC，则费用另计。

3．确定烧录样品：由客户提供样品，烧录程序及CHECKSUM;送还试烧样品，供客户验证及确认。

4．订购单：将客户的订单详情输入电脑订单系统。

5．生产安排：生产部门根据要求安排设备和人力;将烧录容量比较好化以缩短交货时间。

6．进料：确定来料种类，宝山区IC测烧生产厂家，数量正确。

7．烧录测试：大量烧录前再次确定机器设定及烧录内容正确性;烧录品质及良率控制；烧录内容保密控制。

8．烧录QA：QA人员检验烧录程序正确性及有否弯脚，混料。

9．按客户要求的材料，方法包装成品。

10．外观QA：就打印，混料，弯脚以及包装材料，宝山区IC测烧生产厂家，包装方法做外观检查。

11．出货：准备出库单，宝山区IC测烧生产厂家，送货单及收据;确保将正确的产品和数量及时运交给客户。 提高客制化生产服务，以保持较大弹性，满足客户需求！宝山区IC测烧生产厂家

芯片测试机的技术难点：

1、随着集成电路应用越趋于火热，需求量越来越大，对测试成本要求越来越高，因此对测试机的测试速度要求越来越高（如源的响应速度要求达到微秒级）；

2、由于集成电路参数项目越来越多，如电压、电流、时间、温度、电阻、电容、频率、脉宽、占空比等，对测试机功能模块的需求越来越多；

3、状态、测试参数监控、生产质量数据分析等方面，结合大数据的应用，对测试机的数据存储、采集、分析方面提出了较高的要求。

4、客户对集成电路测试精度要求越来越高（微伏、微安级精度），如对测试机钳位精度要求从1%提升至0.25%、时间测量精度提高到微秒级，对测试机测试精度要求越趋严格；

5、集成电路产品门类的增加，要求测试设备具备通用化软件开发平台，方便客户进行二次应用程序开发，以适应不同产品的测试需求 梅州本地IC测烧OPS秉持“客户至上，服务**”的精神！

    什么是编程器？编程器在中国闽台是叫烧录器，因为中国闽台的半导体产业发展的早，到大陆后,客户之所以叫它为“编程器”是因为现在英文名为PROGRAMMER，这个英文名与一般编写软件程式设计师是同名，所以就叫“编程器”，编程器实际上是一个把可编程的集成电路写上数据的工具,编程器主要用于单片机（含嵌入式）/存储器(含BIOS)之类的芯片的编程（或称刷写）。编程器在功能上可分通用编程器和编程器.型编程器价格比较低，适用芯片种类较少，适合以某一种或者某一类芯片编程的需要，例如需要对PIC系列编程。全功能通用型一般能够涵盖几乎（不是全部）所有当前需要编程的芯片，由于设计麻烦，成本较高，限制了销量，终售价较高，适合需要对很多种芯片进行编程的情况。

DIP(DualIn－line Package)双列直插式封装称DIP或DIL(这是欧洲半导体制造商常用的名称)。插装型封装之一，引脚从封装两侧引出，封装材料有塑料和陶瓷两种。DIP是普及的插装型封装，应用范围包括标准逻辑IC，存贮器LSI，微机电路等。引脚中心距2.54mm，引脚数从6到64。封装宽度通常为15.2mm。有的把宽度为7.52mm和10.16mm的封装分别称为skinnyDIP和slimDIP(窄体型DIP)。但多数情况下并不加区分，只简单地统称为DIP。

Cerdip——用玻璃密封的陶瓷双列直插式封装，用于ECLRAM，DSP(数字信号处理器)等电路。引脚中心距2.54mm，引脚数从8到42。在日本，此封装表示为DIP-G(G即玻璃密封的意思)。

DIC——陶瓷DIP(含玻璃密封)的别称DIL——DIP的别称，欧洲半导体厂家多用此名称。

SDIP——收缩型DIP。插装型封装之一，形状与DIP相同，但引脚中心距(1.778mm)小于DIP(2.54mm)，因而得此称呼。引脚数从14到90。也有称为SH-DIP的。材料有陶瓷和塑料两种。

SK-DIP——DIP的一种。指宽度为7.62mm、引脚中心距为2.54mm的窄体DIP。通常统称为DIP。

SL-DIP——DIP的一种。指宽度为10.16mm，引脚中心距为2.54mm的窄体DIP。通常统称为DIP。 芯片技术的迅猛发展和不断较新,给芯片烧录带来的技术性问题直接影响产品品质和生产周期。

IC产品可靠性等级测试之环境测试项目有哪些？

1、PRE-CON:预处理测试（PreconditionTest）目的：模拟IC在使用之前在一定湿度，温度条件下存储的耐久力，也就是IC从生产到使用之间存储的可靠性。

2、THB:加速式温湿度及偏压测试（TemperatureHumidityBiasTest）

目的：评估IC产品在高温，高湿，偏压条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程。

测试条件：85℃，85%RH,1.1VCC,Staticbias

失效机制：电解腐蚀

3、高加速温湿度及偏压测试（HAST:HighlyAcceleratedStressTest）

目的：评估IC产品在偏压下高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。

测试条件：130℃，85%RH,1.1VCC,Staticbias，2.3atm

失效机制：电离腐蚀，封装密封性

4、PCT:高压蒸煮试验PressureCookTest(AutoclaveTest)

目的：评估IC产品在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。

测试条件：130℃，85%RH,Staticbias，15PSIG（2atm）

失效机制：化学金属腐蚀，封装密封性

5、SHTTest:焊接热量耐久测试（SolderHeatResistivityTest）

目的：评估IC对瞬间高温的敏感度测试

方法：侵入260℃锡盆中10秒

失效标准（FailureCriterion）：根据电测试结果 烧录过程在此处被称为编程，在某些地方也被称为IC复制。梅州本地IC测烧

OPS拥有全系列IC自动烧录机、测试机，支持各类包装（管状、托盘、卷带）的芯片。宝山区IC测烧生产厂家

芯片制造一般有六个重要步骤：

一是光刻（Photolithography）：利用曝光和显影在光刻胶层上刻画几何图形结构，然后通过刻蚀工艺将光掩模上的图形转移到所在衬底上

二是离子注入（IonImplantation）：离子束射到固体材料以后，受到固体材料的抵抗而速度慢慢减低下来，并停留在固体材料中的现象

三是扩散（Diffusion）

四是薄膜淀积（Deposition）；

五是刻蚀（Etch）；

六是化学机械研磨（ChemicalMechanicalPolishing，CMP）

这六个步骤在芯片制造的过程中会被反复用到，把各种不同的器件制作在硅晶圆上，然后通过金属沉积把做好的器件连接成电路。 宝山区IC测烧生产厂家

优普士电子（深圳）有限公司成立于公元2005年，是崇碁集团之下大陆分公司；初期业务以代理日本IC烧录器(Wave Technology)为主要营业项目，鉴于IC烧录器对新IC支持费用昂贵以及分工化明细。因此，崇碁于2004年在内湖科学园区转型为IC Programming House。

     2005下半年度与Foxconn合作，在深圳设立大陆*1个驻厂的服务据点，为广大客户群体提供IC烧录、设备买卖、打点、编带、烘烤等服务。在我司技术及品质优势日益凸显的背景下，公司业务相应进行稳步扩展，现阶段营业项目已涵盖IC测试（FT、SLT）、烧录、Laser Marking、包装转换等一体化配套服务，为满足市场的巨大需求。