直读光谱仪操作 等离子体光电直读光谱仪

直读光谱仪在检测分析过程中由于各种因素的影响产生误差是在所难免的，比如标准样品和分析样品成分不均匀、组织状况不一致、光谱性能不稳定、样品表面处理不好、氩气纯度不够等一个因素出现问题，就会影响到光电光谱分析误差。了解其产生误差的原因，采取有效的措施进行消除或避免误差，提高直读光谱仪检测结果的准确性，是一项十分重要的研究课题。

直读光谱仪光电效应
光电效应的发现者是德国物理学家海因里希?赫兹（Heinrich Rudolf Hertz）。1886年12月，他在实验中意外发现：紫外线照射到金属表面时，能使金属**带电粒子电流，这种奇特的现象后来被称为光电效应。
1902年，德国物理学家菲利普?莱纳德（Philipp Eduard Anton von Lénárd）对产生光电效应过程中各相关物理量间的关系进行研究时发现了一个重要规律：光电效应产生的光电子数目随入射光的强度增加而增加，但光电子的速度，或者说它们的动能只与入射光的频率有关，而与入射光的强度无关。这个实验结果用经典物理学完全无法解释。
1905年3月，犹太裔物理学家阿尔伯特·爱因斯坦（Albert Einstein）受普朗克**假设的启发，想像力地运用相对论和光**理论解释了莱纳德光电效应实验的结果，列出了光电方程式。但因没有直接的实验数据支持，他的这个理论解释那时并没有得到学术界的支持。
美国物理学家罗伯特·密立根（Robert Andrews Millikan）经过10年的实验，1916年以他精湛的实验结果证实了爱因斯坦的理论完全正确（其实他原本的意图是想用实验爱因斯坦的理论解释有误）。

仪器的漂移校正需要进行标准化，控样主要是消除样品与标样之间因组织结构、成分差异等而引起的分析结果偏差。控样要求与分析样品结构类似、成分接近、生产工艺尽可能相同并经化学法或其他可靠的分析方法定值。
        控样校准是一种行之有效的方法，国外一般称之为类型标准化。要用控样校准，前提是工作曲线正常。一般应在完全标准化后进行。控样应与待分析样品的冶炼方式、物理结构、化学成分含量相近，这是应用控样必须遵守的。 
       可以去购买相接近的标样做为控样。但我觉得如果条件允许，还是自己制备，这样不仅节省成本，而且与自己的分析条件较符合。 
       制作控样还是比较费事的，首先要准备好浇注模具和同种牌号、熔炼良好的液态合金，尽量在短时间内浇注完成。浇注好的样块先经过肉眼观察，将外观不好的丢弃。再用光谱仪进行均匀性和含量检查（全部）。根据浇注数量和时间顺序从中挑选，选择几块用金相法检测均匀性及铸造质量。 
       从挑选好的的中控样，挑选几块，用化学法进行化学成分标定（推荐到有的单位做）。给控样打好标识，就可以投入使用了。 
        曲线漂移是用两点标准化来校正的,控样是和你们实际生产中产品的工作环境、条件非常接近的样品，这样可以使你分析较加准确，它是自己做的，但是需要化学分析严格准确地定值。

取样方法和对样品的处理是光谱分析中影响分析精度和准确度的重要而关键的因素。炉前分析时要对炉中铸态的钢样采取快速红切的方式进行，如果检测的样品存在裂纹、杂质和气孔等问题，要重新进行取样检测。对于低碳钢材料要将其置入流水中进行骤降温处理，确保样品组织结构形成马氏体和奥氏体，从而有效提升碳的分析结果的准确性。但要引起注意的是，对于高碳样品进行切割后，不能采取骤降温的方式进行处理，防止因为骤降温引发裂缝发生。另外，对于铸铁和球墨铸铁的检测和分析，要确保所检测的样品进行白口化，并确保取样的温度、脱模时间、冷却速度标准和统一。另外不同材料的检测分析，要选择适合的研磨工具，通常使用氧化铝砂轮片进行打磨，要注意打磨的颗粒处于中等状态，不能太粗或太细。需要强调的是，试样样品的表面要打磨掉0.5至1.5毫米，除去样品表面的氧化层，防止检测结果的不准确，氧化层对碳的分析结果的准确性影响较大。

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