FLA-6630ASFLA-6630AS高低温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高低温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持5040颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温(低温)的同时确保温度准确。
性能特点
1:温度准确,产品周边温度稳定控制在±3°内
2:升降温速度:可同时针对5040颗芯片进行老化测试
3:测试座可拔插替换式,方便更换与维护
4:预留MES系统对接接口
5:更换不同老化板即可兼容生产eMMC/eMCP/ePOP/UFS产品
6:单颗DUT电源设计,保护产品
设备型号FLA-6630AS使用产品类别eMMC/eMCP/ePOP/UFS温度范围‘-20℃~+85℃测试DUT数5040pcs电源三相380V功率30KV尺寸3350mm(长)*1450mm(深)*2300mm(高)重量1200kg。 优普士完整的后段服务整合,烧录,测试,成都购买IC老化测试设备哪家好,成都购买IC老化测试设备哪家好,卷带,雷雕,检测,出货,成都购买IC老化测试设备哪家好,物流,等一站式服务。成都购买IC老化测试设备哪家好
IC (Intergrated Circuit) 老化由以下四种效应之一造成:
1、EM (electron migration,电子迁移)
2、TDDB (time dependent dielectric breakdown,与时间相关电介质击穿)
3、NBTI (negative-bias temperature instability,负偏置温度不稳定性)
4、HCI (hot carrier injection,热载流子注入)
了解完以上四种效应,我们就可以理解为什么电路速度会随着时间的推移变得越来越慢?这是因为断键是随机发生的,需要时间的积累。另外,**提到的断裂的Si-H键可以自我恢复,因此基于断键的老化效应都具有恢复模式。对于NBTI效应来说,施加反向电压就会进入恢复模式;对于HCI效应来说,停止使用就进入恢复模式。然而,这两种方式都不可能长时间发生,因此总的来说,芯片是会逐渐老化的。
我们也就可以理解为什么老化跟温度有关,温度表示宏观物体微观粒子的平均动能。温度越高,电子运动越剧烈,Si−HSi−H键断键几率就大。
那为什么加压会加速老化?随着供电电压的升高,偏移电压也随之增加,这会加速氢原子的游离,从而抑制了自发的恢复效应。这种状况会加速设备的自然老化过程。
上海附近哪里有IC老化测试设备交期多长提高客制化生产服务,以保持较大弹性,满足客户需求!芯片测试座具有以下优点:
1.提高测试效率和准确性:通过将芯片与测试仪器进行连接,能够提高测试效率和准确性,降低测试成本。
2.适用于多种类型芯片:由于芯片测试座的承载器和连接器设计灵活,因此能够适应多种类型和规格的芯片测试需求。
3.便于维护和操作:芯片测试座结构简单,易于维护和操作。随着半导体技术的不断发展,芯片的性能和复杂度不断提高,芯片测试座在半导体产业中的应用前景也越来越广阔。在未来,随着半导体工艺的不断进步和优化,芯片测试座将在提高芯片性能、降低成本、提高生产效率等方面发挥较加重要的作用。
模块测试座的特点
1.适用性模块测试座适用于各种类型的物联网模块,包括但不限于蓝牙模块、WIFI模块等。这意味着开发者可以使用同一套设备进行多种类型模块的测试,较大提高了开发效率。
2.灵活的压盖设计模块测试座的压盖可以设计为手动或自动结构,满足不同的操作需求和效率要求。自动结构的压盖可以提高测试的效率,而手动结构的压盖则较适合对精度有较高要求的场景。
3.兼容性强模块测试座适用于间距从0.4mm到1.27mm的产品,兼容性强,可以满足各种设备的测试需求。
4.维护方便模块测试座的探针可以更换,这使得设备在出现故障时可以快速维修,较大降低了维护成本。同时,由于探针可以更换,因此在探针磨损或损坏时,不需要更换整个设备,只需要更换探针即可,进一步降低了使用成本。 FP-006C,采用整盘产品同时接触技术,精度高。
FLA-6610T高温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持1520颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温的同时确保温度精细嗡嗡嗡。
性能特点
1:10层堆叠技术,可同时测试10Tray产品。
2:技术源自日本,使用FPGA(ARM)架构
3:可同时针对1520颗芯片进行老化测试
4:预留MES系统对接接口
5:更换不同老化板即可生产eMCP/eMCP/ePOP等不同产品
6:单颗DUT单独的电源设计,保护产品
设备型号:FLA-6610T
使用产品类别:eMMC/eMCP/ePOP温度范围:常温~+85°
测试DUT 数:1520pcs
电源:三相380V
功率:20KV
尺寸:1900mm(长)*1700mm(宽)*1900mm(高)
重量:600kg优普士专业生产存储颗粒高低温测试设备,为了让memory颗粒存储芯片晶圆品质得到**做一道老化测试。 想要购买IC老化测试设备,就找优普士!成都购买IC老化测试设备哪家好
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使用老化测试座有哪些优势?
可靠性验证:老化测试座能够模拟产品在长时间使用过程中的性能表现,通过持续运行来验证产品的耐用性。它有助于检测可能存在的故障问题,提前发现并解决潜在的产品质量隐患。
寿命评估:通过将产品放置在老化测试座上进行长时间运行,可以预测产品在实际使用环境下的寿命。通过观察和记录产品在长时间运行后的性能变化,可以预测产品的使用寿命和耐用性。
加速失效:老化测试座可以加速产品的失效过程,使产品在相对短的时间内经历长时间使用产生的疲劳、磨损和老化。这有助于较快地发现可能存在的问题,以便及时进行改进和优化。
节省时间和成本:老化测试座能够快速、可靠地对产品进行长时间稳定运行测试,从而节省了人力和时间成本。通过有效的老化测试,可以减少后期维修和更换的频率,降低产品售后成本。
提高产品质量:通过老化测试,可以发现产品的弱点和不足之处,并及时进行改进和优化。这有助于提高产品质量和耐用性,增加用户满意度和品牌信誉。 成都购买IC老化测试设备哪家好
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