石灰石元素检测仪 应用领域广泛 密封一体化设计

X荧光光谱仪优点：

1、分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟可以测完样品中的全部待测元素；

2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在**软X射线范围内，这种效应较为显著。波长变化用于化学位的测定；

3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好；

4、X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析；

5、分析精密度高；

6、制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

X荧光光谱仪是一种无损的，应用广泛的光谱分析仪器，X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成，X射线管产生入射X射线，激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。

X荧光光谱仪根据其分光原理不同分成波长色散型X荧光光谱仪（波谱仪，WDXRF）和能量色散型X荧光光谱仪（能谱仪，EDXRF），我们通常所说的X荧光光谱仪就是指波长色散的仪器，X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析，元素局限13Al-92U，含量局限ppb至，检出限到2pg。

X荧光光谱仪是一种较新型的可以对多元素进行同时测定的仪器，在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X荧光），波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

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