x射线荧光测厚仪价格IC载板

毛细管聚焦微小样品**薄厚度镀层分析仪产品详细资料介绍，多导毛细聚焦x射线膜厚测试仪性能配置和技术参数请咨询实谱公司提供多导毛细聚焦技术X射线镀层测厚仪的产品应用解决方案，X射线测厚仪被应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合*定位决了大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
X射线激发由上往下，采用Mo靶，铜管体的光管，
大窗口的SDD硅漂移探测器
XY轴程控控制，程控移动
 焦距可变
 高倍放大的高清CCD
 开槽式样品台
多级密码设置可给予不同的管理权限

测量精度较高：新开发的特的光学器件和多导毛细管技术可对**微小区域及纳米级薄层高精度测量
**微小样品检测：测试小测量点直径可达10µm
测量效率高：高灵敏度、高解析度X荧光检测系统搭配多导毛细管技术，测量时间较短，能够实现普通机型几倍的检测量

多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如：Cu/ABS 等]
双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等]
三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass 等]
四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等]
合金镀层应 [如：Sn-Pb/Cu

1. 高性能高精度X荧光光谱仪 (XRF)
2. 计算机 通道逐次近似计算法 ADC (模拟数字转换器)
运用基本参数 (F软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用 基础参数计算方法，对样品进行的镀层厚度分析
3. (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度
毛细管镀层分析产品特点：
1、多导毛细光学系统和高性能SDD探测器：区别金属准直，多导毛细管可将光束缩小至10 μm，同时得到数千倍的强度增益。可测量**微小样品的同时大程度保证了测试的准确性及稳定性。
2、微米级**小区域：在Elite-X光学系统设计下大大降低检出限，纳米级**薄镀层均可准确、可靠测试
3、广角相机：样品整体形貌一览无余，且测试位置一键直达
4、搭配高分辨微区相机：千倍放大*对焦测试区域，搭配XY微米级移动平台，三维方向对焦聚焦测试点位，误差<±2 μm
5、多重保护系统：V型激光保护，360°探入保护，保护您的样品不受损害，保证仪器安全可靠的运作
6、全自动移动平台：可编程化的操作，针对同一类型样品，编程测试点位，同一类样品自动寻路直接测试
7、人性化的软件：搭配EFP**算法软件，人机交互，智慧操作
8、可搭配全自动进送样系统

苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为**,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。