根据权利要求I所述的芯片测试打点机,其特征在于所述头一测试探针(5)和*二测试探针(6 )之间的距离为一个芯片的长度。根据权利要求I或2所述的芯片测试打点机,其特征在于所述头一测试探针(5)和*二测试探针(6 )分别固定在固定架(2 )上,安徽LED芯片打点机厂家直销。**技术摘要本实用新型公开了一种芯片测试打点机,包括打点标记针、芯片承载运动平台、测试探针和用于固定测试探针的固定架,所述打点标记针包括头一打点标记针和*二打点标记针,所述测试探针包括与头一打点标记针配合的头一测试探针和与*二打点标记针配合的*二测试探针,头一测试探针和*二测试探针位于头一打点标记针和*二打点标记针之间,头一打点标记针和头一测试探针之间的距离为一个芯片的长度,安徽LED芯片打点机厂家直销,安徽LED芯片打点机厂家直销,*二打点标记针和*二测试探针之间的距离为一个芯片的长度。本实用新型的主要目的在于提高设备的工作效率,减小设备占用的空间。芯片打点机的标记速度和精度是其他设备无法比拟的。安徽LED芯片打点机厂家直销
芯片打点机的应用范围非常普遍,但是需要注意的是,由于芯片打点机是一种高精度、高效率的设备,因此制造、维护和操作需要高度的专业技术和经验,不能在没有足够经验的情况下进行操作,否则可能会对设备和产品的质量造成严重危害。总之,芯片打点机是一种非常重要的生产设备,可以普遍应用于半导体、电子、光学等多个领域。随着信息技术的迅速发展,芯片打点机的应用将越来越普遍,对现代工业的发展将产生越来越重要的影响和帮助。广西IC芯片打点机价位芯片打点机的标识速度快,提高了生产效率,减少了人工成本和时间成本。
优点:构造精密,使用方便,效率高,打点准确,亦便于检查和修理。操作方法:打10mm标距点,使用两用高盛标距仪时将试样材料放入试样座槽内。打5mm标距点,使用两用高盛标距仪打印5mm的间距要先打印要10mm间距,再用左手轻推(或轻拉)丝杆摇手,使试样移位5mm。继续打印一次,打印完后,拿下试样即可 。全自动8寸IC探针台 半导体晶圆点测机 芯片测试设备,配备 TTL、GPIB、COM 之开放式的接口,可与目前市面上各家芯片测试仪进行搭配使用; 日制高精密丝杆导轨,配合高分辨率光栅尺/磁栅尺,品质稳定,磨损少,机械刚性强,运行平稳,机构尺寸优化缩小,提高厂房利用率。全自动上下片可选配。
采用上述全自动芯片检测打点机时,其通过测试气缸驱动测试压头下压对其下方的指纹芯片进行检测,测试完成后再由打点气缸驱动打点笔下压进行打点区分优劣,全程自动话机械操作,替代现有的人工打点,具有节省人工、速度快且准确的优点;其次,既节约了螺栓与基板和测试载台吻合对孔的时间,也避免螺栓旋转时出现偏离方向的问题,同时操作简单,减少操作人员的工作强度,且防止了更换测试载台时出现螺栓丢失的问题,节约了成本和时间;再次,其采用可拆卸的方式,既可以在测试载台出现问题时及时更换,又可以根据测试产品不同更换相应的测试载台,具有良好的通用性,节约成本;再次,通过基座和支撑板之间弹簧的设置,使得基座在不工作的情况下处在自然舒张状态,PIN针可以完全没入基座和支撑板之间,起到保护PIN针的作用,从而延长设备的使用周期,节约成本,提高生产效率。上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。芯片打点机标识的信息可以使得生产过程较可控,避免品质问题。
所述测试气缸安装于连接板上表面且测试气缸的活塞杆穿过连接板与一测试滑块固定连接,此测试滑块通过一测试滑轨与安装板滑动连接,所述测试滑块下方设置有一L形支架,此L形支架下表面具有一测试压头,所述打点气缸安装于连接板上表面且打点气缸的活塞杆穿过连接板与一打点滑块固定连接,此打点滑块通过一打点滑轨与安装板滑动连接,所述打点滑块下方设置有一供打点笔插入的笔架;所述测试载台进一步包括基座、支撑板、PCB板和底板,所述底板上开有一安装孔,所述基座嵌入安装孔内,所述支撑板安装于底板下表面并基座下表面接触,所述支撑板和基座上均开有若干供PIN针穿入的通孔,所述PIN针依次嵌入基座和支撑板的通孔内,此PIN针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触,PIN针下端与所述PCB板的电接触区电接触,所述基座的下表面或和支撑板的上表面开有若干个盲孔,此盲孔内嵌有位于支撑板和基座之间的弹簧。芯片打点机可以根据芯片的特殊需求进行定制,如打印经纬度、高度等。广西IC芯片打点机价位
芯片打点机的控制系统可以自动调整温度和喷头流量,保证标识质量和一致性。安徽LED芯片打点机厂家直销
如果*二个芯片测试不合格,芯片承载运动平台移动距离为两个芯片距离,测试程序测试不动,进行打点动作同时测试探针进行下一组测试。[0023]如果两个芯片同时测试不合格,芯片承载运动平台移动一个芯片的距离打点标记针打点,程序不测试,再移动一个芯片的距离对*二个芯片打点。同时测试探针进行下一组 测试。因产品测试良率在96%以上,所以整个运动过程几乎不会因程序判断时间影响整体设备运行效率。本实用新型结构示意图图中标记为1、芯片承载运动平台,2、固定架,3、头一打点标记针,4、*二打点标记针,5、头一测试探针,6、*二测试探针,7、待测试芯片材料。安徽LED芯片打点机厂家直销
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